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1. (WO2018154625) 撮像装置、撮像システム、及び撮像方法
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国際公開番号: WO/2018/154625 国際出願番号: PCT/JP2017/006346
国際公開日: 30.08.2018 国際出願日: 21.02.2017
IPC:
G01N 21/27 (2006.01) ,G01J 1/38 (2006.01) ,G01J 1/42 (2006.01) ,G01N 21/01 (2006.01) ,G01N 21/359 (2014.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25
色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27
光電検出器を用いるもの
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
1
測光,例.写真の露出計
38
全体的視覚手段によるもの
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
1
測光,例.写真の露出計
42
電気的な放射線検出器によるもの
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
01
光学的調査を容易に行なうための配置または装置
[IPC code unknown for G01N 21/359]
出願人:
国立研究開発法人産業技術総合研究所 NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY [JP/JP]; 東京都千代田区霞が関一丁目3番1号 3-1, Kasumigaseki 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008921, JP
株式会社ニコン NIKON CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区港南二丁目15番3号 15-3, Konan 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1086290, JP
発明者:
池原 譲 IKEHARA Yuzuru; JP
池原 早苗 IKEHARA Sanae; JP
戸津 政浩 TOTSU Masahiro; JP
柳川 卓也 YANAGAWA Takuya; JP
劉 真 LIU Zhen; JP
代理人:
平木 祐輔 HIRAKI Yusuke; JP
渡辺 敏章 WATANABE Toshiaki; JP
松丸 秀和 MATSUMARU Hidekazu; JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) IMAGING DEVICE, IMAGING SYSTEM, AND IMAGING METHOD
(FR) DISPOSITIF D'IMAGERIE, SYSTÈME D'IMAGERIE ET PROCÉDÉ D'IMAGERIE
(JA) 撮像装置、撮像システム、及び撮像方法
要約:
(EN) The present invention effectively distinguishes the parts of a sample. An imaging device according to this embodiment is provided with a light detection unit for detecting light radiated from a sample irradiated by a light source with infrared light of a first wavelength and infrared light of a second wavelength and a control unit for adjusting the intensity of the infrared light of the first wavelength or infrared light of the second wavelength and generating a sample image on the basis of the detection results obtained by simultaneously irradiating the infrared light of the first wavelength and infrared light of the second wavelength onto the sample (fig. 1).
(FR) La présente invention concerne une distinction efficace des parties d'un échantillon. Un dispositif d'imagerie selon ce mode de réalisation comporte une unité de détection de lumière pour détecter la lumière rayonnée à partir d'un échantillon irradié par une source de lumière avec une lumière infrarouge d'une première longueur d'onde et une lumière infrarouge d'une seconde longueur d'onde et une unité de commande pour régler l'intensité de la lumière infrarouge de la première longueur d'onde ou de la lumière infrarouge de la seconde longueur d'onde et générer une image d'échantillon sur la base des résultats de détection obtenus par irradiation simultanée de la lumière infrarouge de la première longueur d'onde et de la lumière infrarouge de la seconde longueur d'onde sur l'échantillon (fig. 1).
(JA) サンプルの各部位を効果的に弁別する。本実施形態による撮像装置は、光源部から第1波長の赤外光と第2波長の赤外光とが照射されるサンプルから放射される光を検出する光検出部と、第1波長の赤外光の強度又は第2波長の赤外光の強度を調整して、第1波長の赤外光と第2波長の赤外光とをサンプルに同時に照射して得られる検出結果をもとにサンプルの画像を生成する制御部と、を備える(図1)。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)