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1. (WO2018150944) 検査チップ及び検査システム
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国際公開番号: WO/2018/150944 国際出願番号: PCT/JP2018/003968
国際公開日: 23.08.2018 国際出願日: 06.02.2018
IPC:
G01N 21/03 (2006.01) ,G01N 21/41 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01) ,G01N 35/02 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
01
光学的調査を容易に行なうための配置または装置
03
キュベット構造
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
41
屈折率;位相に影響を与える性質,例.光路長
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
62
調査される材料が励起され,それにより光を発しまたは入射光の波長に変化を生ずるシステム
63
光学的励起
64
蛍光;燐光
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
35
グループ1/00から33/00のいずれか1つに分類される方法または材料に限定されない自動分析;そのための材料の取扱い
02
1以上の処理位置または分析位置へコンベア系によって移動させられる多数の試料容器を用いるもの
出願人:
コニカミノルタ株式会社 KONICA MINOLTA, INC. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番2号 2-7-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1007015, JP
発明者:
彼谷 高敏 KAYA, Takatoshi; --
金子 智典 KANEKO, Tomonori; --
代理人:
鷲田 公一 WASHIDA, Kimihito; JP
優先権情報:
2017-02582315.02.2017JP
発明の名称: (EN) INSPECTION CHIP AND INSPECTION SYSTEM
(FR) PUCE D'INSPECTION ET SYSTÈME D'INSPECTION
(JA) 検査チップ及び検査システム
要約:
(EN) This inspection chip for stirring a liquid via the circular movement of a bottom surface end has a well body for storing the liquid, and a lateral wall member positioned on the lateral surface of the well body. The bottom surface end has a bottom surface structure which: contacts a rotation member for circularly moving the bottom surface end; and is located at a position offset toward the lateral wall member from the center line of the well body.
(FR) Cette puce d'inspection pour l'agitation d'un liquide par le biais du mouvement circulaire d'une extrémité de surface inférieure comporte un corps de puits pour stocker le liquide et un élément de paroi latérale positionné sur la surface latérale du corps de puits. L'extrémité de surface inférieure comporte une structure de surface inférieure qui : vient en contact avec un élément de rotation pour déplacer de manière circulaire l'extrémité de surface inférieure ; et est située au niveau d'une position décalée en direction de l'élément de paroi latérale par rapport à la ligne centrale du corps de puits.
(JA) 本発明に係る検査チップは、底面端の円運動により液体を撹拌する検査チップであって、液体を収容するためのウェル本体と、ウェル本体の側面に配設された側壁部材とを有する。底面端は、ウェル本体の中心線から側壁部材に偏った位置にて、底面端を円運動させるための回転部材と接触する底面構造を有する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)