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1. (WO2018150759) マークを有するガラス基板およびその製造方法
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国際公開番号: WO/2018/150759 国際出願番号: PCT/JP2018/000118
国際公開日: 23.08.2018 国際出願日: 05.01.2018
IPC:
C03C 23/00 (2006.01) ,B23K 26/00 (2014.01) ,B23K 26/18 (2006.01)
C 化学;冶金
03
ガラス;鉱物またはスラグウール
C
ガラス,うわ薬またはガラス質ほうろうの化学組成;ガラスの表面処理;ガラス,鉱物またはスラグからの繊維またはフィラメントの表面処理;ガラスのガラスまたは他物質への接着
23
繊維やフィラメントの形態をとらない繊維以外のガラスのその他の表面処理
B 処理操作;運輸
23
工作機械;他に分類されない金属加工
K
ハンダ付またはハンダ離脱;溶接;ハンダ付または溶接によるクラッドまたは被せ金;局部加熱による切断,例.火炎切断:レーザービームによる加工
26
レーザービームによる加工,例.溶接,切断,穴あけ
B 処理操作;運輸
23
工作機械;他に分類されない金属加工
K
ハンダ付またはハンダ離脱;溶接;ハンダ付または溶接によるクラッドまたは被せ金;局部加熱による切断,例.火炎切断:レーザービームによる加工
26
レーザービームによる加工,例.溶接,切断,穴あけ
18
加工される材料上に吸収層を用いるもの,例.対象物をマーキングまたは保護するもの
出願人:
AGC株式会社 AGC INC. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目5番1号 5-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008405, JP
発明者:
小林 悠波 KOBAYASHI, Yuha; JP
西原 芳幸 NISHIHARA, Yoshiyuki; JP
代理人:
伊東 忠重 ITOH, Tadashige; JP
伊東 忠彦 ITOH, Tadahiko; JP
優先権情報:
2017-02646415.02.2017JP
発明の名称: (EN) GLASS SUBSTRATE HAVING MARK AND PRODUCTION METHOD THEREFOR
(FR) SUBSTRAT EN VERRE AYANT UNE MARQUE ET SON PROCÉDÉ DE PRODUCTION
(JA) マークを有するガラス基板およびその製造方法
要約:
(EN) This glass substrate has a mark on a surface thereof, wherein: the mark is an identifier, an alignment mark, or a portion thereof; the mark is formed of a plurality of dots; the dots are formed of a plurality of laser irradiation traces; and each of the laser irradiation traces has, in the surface, an opening portion having a diameter ranging from 5 to 15 μm and having a depth ranging from 1 to 10 μm.
(FR) La présente invention concerne un substrat en verre ayant une marque sur sa surface : la marque étant un identifiant, une marque d'alignement, ou une partie de cette dernière; la marque étant formée d'une pluralité de points; les points étant formés d'une pluralité de traces d'irradiation laser; et chacune des traces d'irradiation laser ayant, dans la surface, une partie d'ouverture présentant un diamètre s'étendant de 5 à 15 µm et présentant une profondeur s'étendant de 1 à 10 µm.
(JA) 表面にマークを有するガラス基板であって、前記マークは、識別子、アライメントマーク、またはそれらの一部であり、前記マークは、複数のドットで構成され、各ドットは、複数のレーザ照射痕で構成され、各レーザ照射痕は、前記表面の開口部の直径が5μm~15μmの範囲であり、深さが1μm~10μmの範囲である、ガラス基板。
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)