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1. (WO2018150471) 構造化照明顕微鏡、観察方法、及びプログラム
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国際公開番号: WO/2018/150471 国際出願番号: PCT/JP2017/005356
国際公開日: 23.08.2018 国際出願日: 14.02.2017
IPC:
G02B 21/06 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01) ,G02B 21/00 (2006.01)
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
06
試料照明のための手段
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
62
調査される材料が励起され,それにより光を発しまたは入射光の波長に変化を生ずるシステム
63
光学的励起
64
蛍光;燐光
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
出願人:
株式会社ニコン NIKON CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区港南二丁目15番3号 15-3, Konan 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1086290, JP
発明者:
奥平 陽介 OKUDAIRA, Yosuke; JP
杉崎 克己 SUGISAKI, Katsumi; JP
代理人:
西 和哉 NISHI, Kazuya; JP
川村 武 KAWAMURA, Takeshi; JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) STRUCTURED ILLUMINATION MICROSCOPE, OBSERVATION METHOD, AND PROGRAM
(FR) MICROSCOPE À ÉCLAIRAGE STRUCTURÉ, PROCÉDÉ D'OBSERVATION ET PROGRAMME
(JA) 構造化照明顕微鏡、観察方法、及びプログラム
要約:
(EN) [Problem] To provide a structured illumination microscope that allows for high-speed observation. [Solution] A structured illumination microscope (1) comprises: an illumination optical system (11) that irradiates a sample (X) with an interference fringe of excitation light for exciting a fluorescent substance contained in the sample; a control unit (41) for changing the phase of the interference fringe; a detection unit (35) that carries out lock-in detection on the light from the sample with at least a single frequency; and an image processing unit (40) that generates the image of the sample using at least a portion of the signal subjected to the lock-in detection.
(FR) Le problème décrit par la présente invention est de fournir un microscope à éclairage structuré qui permet une observation à grande vitesse. La solution selon l'invention porte sur un microscope à éclairage structuré (1) qui comprend : un système optique d'éclairage (11) qui irradie un échantillon (X) avec une frange d'interférence de lumière d'excitation pour exciter une substance fluorescente contenue dans l'échantillon ; une unité de commande (41) pour changer la phase de la frange d'interférence ; une unité de détection (35) qui réalise une détection de verrouillage sur la lumière provenant de l'échantillon avec au moins une fréquence unique ; et une unité de traitement d'image (40) qui génère l'image de l'échantillon à l'aide d'au moins une partie du signal soumis à la détection de verrouillage.
(JA) 【課題】高速化が可能な構造化照明顕微鏡を提供する。 【解決手段】構造化照明顕微鏡(1)は、試料(X)に含まれる蛍光物質を励起するための励起光を、干渉縞で試料に照射する照明光学系(11)と、干渉縞の位相を変化させる制御部(41)と、試料からの光を少なくとも1つの周波数でロックイン検出する検出部(35)と、ロックイン検出された信号の少なくとも一部を用いて、試料の画像を生成する画像処理部(40)と、を備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)