このアプリケーションの一部のコンテンツは現時点では利用できません。
このような状況が続く場合は、にお問い合わせくださいフィードバック & お問い合わせ
1. (WO2018147165) 分光顕微鏡、及び分光観察方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2018/147165 国際出願番号: PCT/JP2018/003456
国際公開日: 16.08.2018 国際出願日: 01.02.2018
IPC:
G01J 3/04 (2006.01) ,G01J 3/36 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01) ,G01N 21/65 (2006.01) ,G02B 21/36 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
3
分光測定;分光光度測定;モノクロメータ;色の測定
02
細部
04
スリットの構成
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
3
分光測定;分光光度測定;モノクロメータ;色の測定
28
スペクトルの調査
30
スペクトル上で直接スペクトル線強度を測定するもの
36
別々の検出器によるスペクトル中の2以上のバンドの調査
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25
色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27
光電検出器を用いるもの
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
62
調査される材料が励起され,それにより光を発しまたは入射光の波長に変化を生ずるシステム
63
光学的励起
65
ラマン散乱
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
36
写真撮影用または投影用に構成されたもの
出願人:
ナノフォトン株式会社 NANOPHOTON CORPORATION [JP/JP]; 大阪府大阪市北区梅田一丁目1番3-267号 1-3-267, Umeda 1-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300001, JP
発明者:
藤田 克昌 FUJITA Katsumasa; JP
代理人:
家入 健 IEIRI Takeshi; JP
優先権情報:
2017-02078607.02.2017JP
発明の名称: (EN) SPECTROSCOPIC MICROSCOPE, AND SPECTROSCOPIC OBSERVATION METHOD
(FR) MICROSCOPE SPECTROSCOPIQUE ET PROCÉDÉ D’OBSERVATION SPECTROSCOPIQUE
(JA) 分光顕微鏡、及び分光観察方法
要約:
(EN) A spectroscopic microscope (100) according to a mode of embodiment of the present invention is provided with: a light source (11) which generates laser light (L1) that is incident on a sample (37); an edge filter (31) which, in order to illuminate a plurality of line-shaped illumination regions (39) on the sample (37), causes signal light (L3) generated in the illumination region (39) illuminated by the laser light (L2) to branch from light having the same wavelength as the laser light (L1) from the light source; a multi-slit unit (51) which has a plurality of slits through which signal light (L4) caused to branch by the edge filter passes, and in which the plurality of slits are aligned in a slit width direction; and a spectroscope (60) which causes the signal light (L4) that has passed through the plurality of slits (53) to disperse in a dispersion direction orthogonal to a slit length direction, and which detects the dispersed signal light (L4) using a two-dimensional array light detector (62).
(FR) Un microscope spectroscopique (100) selon un mode de réalisation de la présente invention comprend : une source de lumière (11) qui génère une lumière laser (L1) qui est incidente sur un échantillon (37) ; un filtre à fentes (31) qui, afin d’éclairer une pluralité de régions d’éclairage en forme de ligne (39) sur l’échantillon (37), amène la lumière de signal (L3) générée dans la région d’éclairage (39) éclairée par la lumière laser (L2) à se séparer de la lumière ayant la même longueur d’onde que la lumière laser (L1) provenant de la source de lumière ; une unité à multiples fentes (51) qui a une pluralité de fentes à travers lesquelles passe la lumière de signal (L4), qui a été séparée par les filtres à fentes, la pluralité des fentes étant alignées selon la direction latérale des fentes ; et un spectroscope (60) qui amène la lumière de signal (L4) qui a traversé la pluralité de fentes (53) à se disperser dans une direction de dispersion orthogonale à la direction longitudinale des fentes, et qui détecte la lumière de signal dispersée (L4) à l’aide d’un réseau bidimensionnel de détecteurs de lumière (62).
(JA) 本実施の形態にかかる分光顕微鏡(100)は、試料(37)に入射するレーザ光(L1)を発生する光源(11)と、試料(37)上における複数のライン状の照明領域(39)を照明するよう、レーザ光(L2)で照明された照明領域(39)において発生した信号光(L3)を、光源のレーザ光(L1)と同じ波長の光から分岐するエッジフィルタ(31)と、エッジフィルタで分岐された信号光(L4)が通過する複数のスリットを有し、複数のスリットがスリット幅方向に並んでいるマルチスリット部(51)と、複数のスリット(53)を通過した信号光(L4)を、スリット長方向と直交する分散方向に分散して、2次元アレイ光検出器(62)で検出する分光器(60)と、を備えたものである。
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)