このアプリケーションの一部のコンテンツは現時点では利用できません。
このような状況が続く場合は、にお問い合わせくださいフィードバック & お問い合わせ
1. (WO2018146912) 放射線撮像装置および撮像システム
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2018/146912 国際出願番号: PCT/JP2017/042518
国際公開日: 16.08.2018 国際出願日: 28.11.2017
IPC:
G01T 7/00 (2006.01) ,A61B 6/00 (2006.01) ,G01T 1/20 (2006.01) ,H01L 27/144 (2006.01) ,H01L 27/146 (2006.01) ,H04N 5/32 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
T
原子核放射線またはX線の測定
7
放射線測定装置の細部
A 生活必需品
61
医学または獣医学;衛生学
B
診断;手術;個人識別
6
放射線診断用機器,例.放射線治療と結合している装置
G 物理学
01
測定;試験
T
原子核放射線またはX線の測定
1
X線,ガンマ線,微粒子線または宇宙線の測定
16
放射線強度の測定
20
シンチレーション検出器をもつもの
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
27
1つの共通基板内または上に形成された複数の半導体構成部品または他の固体構成部品からなる装置
14
赤外線,可視光,短波長の電磁波または粒子線輻射に感応する半導体構成部品で,これらの輻射線エネルギーを電気的エネルギーに変換するかこれらの輻射線によって電気的エネルギーを制御するかのどちらかに特に適用されるもの
144
輻射線によって制御される装置
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
27
1つの共通基板内または上に形成された複数の半導体構成部品または他の固体構成部品からなる装置
14
赤外線,可視光,短波長の電磁波または粒子線輻射に感応する半導体構成部品で,これらの輻射線エネルギーを電気的エネルギーに変換するかこれらの輻射線によって電気的エネルギーを制御するかのどちらかに特に適用されるもの
144
輻射線によって制御される装置
146
固体撮像装置構造
H 電気
04
電気通信技術
N
画像通信,例.テレビジョン
5
テレビジョン方式の細部
30
光または類似信号から電気信号への変換
32
X線の変換
出願人:
キヤノン株式会社 CANON KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 30-2, Shimomaruko 3-chome, Ohta-ku, Tokyo 1468501, JP
発明者:
野村 慶一 NOMURA, Keiichi; JP
長野 和美 NAGANO, Kazumi; JP
大池 智之 OIKE, Tomoyuki; JP
竹田 慎市 TAKEDA, Shinichi; JP
代理人:
大塚 康徳 OHTSUKA, Yasunori; JP
大塚 康弘 OHTSUKA, Yasuhiro; JP
高柳 司郎 TAKAYANAGI, Jiro; JP
木村 秀二 KIMURA, Shuji; JP
優先権情報:
2017-02160308.02.2017JP
発明の名称: (EN) RADIATION IMAGING DEVICE AND IMAGING SYSTEM
(FR) DISPOSITIF D'IMAGERIE PAR RAYONNEMENT ET SYSTÈME D'IMAGERIE
(JA) 放射線撮像装置および撮像システム
要約:
(EN) The present invention provides a technology that is useful for improving reliability by improving the load resistance of a radiation imaging device configured to be capable of acquiring a radiation image based on energy subtraction processing. This radiation imaging device includes: a first imaging panel including a first sensor substrate having a central region and a peripheral region, and a first scintillator disposed in the central region; a second imaging panel having a second sensor substrate having a central region and a peripheral region, and a second scintillator disposed in the central region, the second imaging panel being disposed above the first imaging panel; a support base that supports the first imaging panel from below; and a support member that is disposed at the lower side of the peripheral region of the second sensor substrate such that a load acting from the upper side on the peripheral region of the second sensor substrate is received by the support base.
(FR) La présente invention concerne une technologie permettant d'améliorer la fiabilité par l'amélioration de la résistance de charge d'un dispositif d'imagerie par rayonnement configuré pour être apte à acquérir une image de rayonnement en fonction d'un traitement de soustraction d'énergie. Ledit dispositif d'imagerie par rayonnement comprend : un premier panneau d'imagerie comprenant un premier substrat de capteur possédant une zone centrale et une zone périphérique et un premier scintillateur disposé dans la zone centrale ; un second panneau d'imagerie possédant un second substrat de capteur possédant une zone centrale et une zone périphérique et un second scintillateur disposé dans la zone centrale, le second panneau d'imagerie étant disposé au-dessus du premier panneau d'imagerie ; une base de support qui supporte le premier panneau d'imagerie par le dessous ; et un élément de support disposé au niveau du côté inférieur de la zone périphérique du second substrat de capteur de telle sorte qu'une charge agissant depuis le côté supérieur sur la zone périphérique du second substrat de capteur soit reçue par la base de support.
(JA) 本発明は、エネルギーサブトラクション処理に基づく放射線画像の取得を可能に構成された放射線撮像装置の荷重に対する耐性を向上させて信頼性を向上させるのに有利な技術を提供する。本発明に係る放射線撮像装置は、中央領域およびその周辺領域を含む第1センサ基板と、該中央領域に配置された第1シンチレータとを含む第1の撮像用パネルと、中央領域およびその周辺領域を含む第2センサ基板と、該中央領域に配置された第2シンチレータとを含み、前記第1の撮像用パネルの上方に配置された第2の撮像用パネルと、前記第1の撮像用パネルを下方側から支持する支持基台と、前記第2センサ基板の周辺領域に上方側から加わる荷重を前記支持基台で受けるように、前記第2センサ基板の周辺領域の下方側に配置された支持部材と、を含む。
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)