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1. (WO2018146901) 高周波測定方法及び高周波測定装置
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国際公開番号: WO/2018/146901 国際出願番号: PCT/JP2017/041675
国際公開日: 16.08.2018 国際出願日: 20.11.2017
IPC:
G01R 31/26 (2014.01) ,G01R 31/316 (2006.01) ,H03F 3/189 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
26
個々の半導体装置の試験
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28
電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
316
アナログ回路の試験
H 電気
03
基本電子回路
F
増幅器
3
増幅素子として電子管のみまたは半導体装置のみをもつ増幅器
189
高周波増幅器,例.無線周波増幅器
出願人:
日本電気株式会社 NEC CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区芝五丁目7番1号 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001, JP
発明者:
村尾 洋二 MURAO Yoji; JP
代理人:
家入 健 IEIRI Takeshi; JP
優先権情報:
2017-02115508.02.2017JP
発明の名称: (EN) HIGH FREQUENCY MEASUREMENT METHOD AND HIGH FREQUENCY MEASUREMENT DEVICE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE À HAUTE FRÉQUENCE
(JA) 高周波測定方法及び高周波測定装置
要約:
(EN) Conventional high frequency measurement methods have a problem in which variation in high frequency performance when a high frequency signal is applied to an amplifier cannot be accurately ascertained. In one aspect of a high frequency measurement method according to the present invention, a test signal (TS) is generated that is a sine wave signal having a prescribed frequency and in which a period (τ) in which the power level is a first power level and a period (T - τ) in which the power level is a second power level lower than the first power level are periodically repeated, the test signal (TS) is applied to an object of measurement (10) as an input signal, and the difference between the output signal (OUT) of the object of measurement (10) and the ideal value of the output signal (OUT) is measured.
(FR) Les procédés classiques de mesure à haute fréquence présentent le problème qu'une variation de performance à haute fréquence ne peut pas être déterminée avec précision quand un signal à haute fréquence est appliqué à un amplificateur. Selon un aspect, la présente invention concerne un procédé de mesure à haute fréquence, où un signal de test (TS) qui est un signal d'onde sinusoïdale de fréquence prescrite est généré, dans lequel une période (τ) où le niveau de puissance est un premier niveau de puissance et une période (T - τ) où le niveau de puissance est un second niveau de puissance inférieur au premier sont périodiquement répétés, et appliqué à l'objet de la mesure (10) à titre de signal d'entrée, et la différence entre le signal de sortie (OUT) de l'objet de la mesure (10) et la valeur idéale du signal de sortie (OUT) est mesurée.
(JA) 従来の高周波測定方法では、増幅器に高周波信号を入力した際の高周波性能の変動を正確に把握することができない問題がある。本発明にかかる高周波測定方法の一態様は、所定の周波数を有する正弦波信号であって、電力レベルが第1の電力レベルとなる期間(τ)と第1の電力レベルよりも低い第2の電力レベルとなる期間(T-τ)が周期的に繰り返される試験信号(TS)を生成し、試験信号(TS)を入力信号として被測定物(10)に入力し、被測定物(10)の出力信号(OUT)と、出力信号(OUT)の理想値との差分を測定する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)