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1. (WO2018146768) 不良要因推定装置および不良要因推定方法

Pub. No.:    WO/2018/146768    International Application No.:    PCT/JP2017/004731
Publication Date: Fri Aug 17 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Fri Feb 10 00:59:59 CET 2017
IPC: G05B 23/02
Applicants: MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
三菱電機株式会社
Inventors: TOYAMA, Yasuhiro
遠山 泰弘
Title: 不良要因推定装置および不良要因推定方法
Abstract:
この発明の不良要因推定装置は、設備を構成する機器のカテゴリデータを収集するデータ収集部と、前記データ収集部で収集されたカテゴリデータを含むデータの相関の指標を算出する相関算出部と、前記相関算出部で算出された相関の指標の変化に基づき、前記カテゴリデータを含むデータの組み合わせを不良に関わるデータとして抽出するデータ抽出部と、前記不良に関わるデータと関連するデータの中から、不良要因と推定されるデータを抽出する因果関係推定部と、を備えることを特徴とする。このような構成により、従来技術では検知できなかった不良を検知することができる。