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1. (WO2018143092) 計測装置
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国際公開番号: WO/2018/143092 国際出願番号: PCT/JP2018/002510
国際公開日: 09.08.2018 国際出願日: 26.01.2018
IPC:
G01S 7/481 (2006.01) ,G01C 3/06 (2006.01) ,G02B 26/10 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
S
無線による方位測定;無線による航行;電波の使用による距離または速度の決定;電波の反射または再輻射を用いる位置測定または存在探知;その他の波を用いる類似の装置
7
グループ13/00,15/00,17/00による方式の細部
48
グループ17/00による方式のもの
481
構造的特徴,例.光学素子の配列
G 物理学
01
測定;試験
C
距離,水準または方位の測定;測量;航行;ジャイロ計器;写真計量または映像計量
3
視準線上の距離測定;光学的距離計
02
細部
06
最終指示値を得るための電気的手段の使用
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
26
可動または変形可能な光学要素を用いて,光の強度,色,位相,偏光または方向を制御,例.スイッチング,ゲーティング,変調する光学装置または光学的配置
08
光の方向を制御するためのもの
10
走査系
出願人:
パイオニア株式会社 PIONEER CORPORATION [JP/JP]; 東京都文京区本駒込二丁目28番8号 28-8, Honkomagome 2-chome, Bunkyo-ku, Tokyo 1130021, JP
発明者:
棚橋 祥夫 TANAHASHI, Yasuo; JP
代理人:
中村 聡延 NAKAMURA, Toshinobu; JP
優先権情報:
2017-01508131.01.2017JP
発明の名称: (EN) MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE
(JA) 計測装置
要約:
(EN) A measurement device 100 has a MEMS mirror 4 for radiating projection light L1 while changing the radiating direction thereof, a light-receiving part 3 for receiving return light L2 reflected by a measurement object 10 included on a surface scanned by the projection light L1 radiated by the MEMS mirror 4, and an optical member 5 for reflecting the projection light L1 and the return light L2. Here, the optical member 5 reflects the projection light L1 radiated by the MEMS mirror 4 in a second period so that a region (first region) of the measurement object 10 irradiated by the projection light L1 in a first period within a first cycle and a region (second region) of the measurement object 10 irradiated by the projection light L1 radiated by the MEMS mirror 4 in a second period at least partially overlap.
(FR) L'invention concerne un dispositif de mesure (100) possédant un miroir MEMS (4) permettant d'émettre le rayonnement d'une lumière de projection (L1) tout en changeant la direction de rayonnement de cette dernière, une partie réception de lumière (3) permettant de recevoir une lumière de retour (L2) réfléchie par un objet de mesure (10) inclus sur une surface balayée par la lumière de projection (L1) dont le rayonnement est émis par le miroir MEMS (4) et un élément optique (5) permettant de réfléchir la lumière de projection (L1) et la lumière de retour (L2). Ici, l'élément optique (5) réfléchit la lumière de projection (L1) dont le rayonnement est émis par le miroir MEMS (4) dans une seconde période de sorte qu'une zone (première zone) de l'objet de mesure (10) exposée à la lumière de projection (L1) dans une première période à l'intérieur d'un premier cycle et qu'une zone (seconde zone) de l'objet de mesure (10) exposée à la lumière de projection (L1) dont le rayonnement est émis par le miroir MEMS (4) dans une seconde période se chevauchent au moins partiellement.
(JA) 計測装置100は、照射方向を変えながら投射光L1を照射するMEMSミラー4と、MEMSミラー4によって照射された投射光L1による走査面に含まれる計測対象物10によって反射された戻り光L2を受光する受光部3と、投射光L1及び戻り光L2を反射する光学部材5とを有する。ここで、光学部材5は、1周期内における第1期間に投射光L1が照射される計測対象物10の領域(第1領域)と、第2期間にMEMSミラー4によって照射された投射光L1が照射される計測対象物10の領域(第2領域)との少なくとも一部が重なるように、第2期間にMEMSミラー4によって照射された投射光L1を反射する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)