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1. (WO2018142519) 膜厚計の位置合わせ治具
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国際公開番号: WO/2018/142519 国際出願番号: PCT/JP2017/003655
国際公開日: 09.08.2018 国際出願日: 01.02.2017
IPC:
G01B 7/06 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
7
電気的または磁気的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
02
長さ,幅または厚みの測定用
06
厚み測定用
出願人:
中国電力株式会社 THE CHUGOKU ELECTRIC POWER CO., INC. [JP/JP]; 広島県広島市中区小町4番33号 4-33, Komachi, Naka-ku, Hiroshima-shi, Hiroshima 7308701, JP
発明者:
真壁 勝久 MAKABE, Katsuhisa; JP
代理人:
一色国際特許業務法人 ISSHIKI & CO.; 東京都港区三田三丁目11番36号三田日東ダイビル Mita-Nitto Daibiru Bldg., 11-36, Mita 3-chome, Minato-ku, Tokyo 1080073, JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) POSITIONING JIG FOR FILM THICKNESS GAUGE
(FR) GABARIT DE POSITIONNEMENT POUR JAUGE D'ÉPAISSEUR DE FILM
(JA) 膜厚計の位置合わせ治具
要約:
(EN) Provided is a positioning jig which is for a film thickness gauge and is used together with a measuring jig used by being attached to a probe of the film thickness gauge. The measuring jig includes: a slide member to which the probe is fixed; and a guide member which supports the slide member such that the slide member is slidable and has a flat surface on the side made to approach an object to be measured. The positioning jig is provided with: a base body having an accommodation part in which the guide member is accommodated, and having, on the flat surface side, an open surface through which the tip of the probe passes; a first contact member extending from the base body and having a first contact surface brought into surface contact with a first outer surface of the object to be measured; a second contact member extending from the first contact member on the open surface and having a second contact surface brought into surface contact with a third outer surface of the object to be measured; and a positioning mechanism which adjusts the position of the first contact surface with respect to the base body and the position of the second contact surface with respect to the base body.
(FR) L'invention concerne un gabarit de positionnement destiné à une jauge d'épaisseur de film et utilisé conjointement avec un gabarit de mesure utilisé par la fixation à une sonde de la jauge d'épaisseur de film. Le gabarit de mesure comprend : un élément coulissant auquel la sonde est fixée ; et un élément de guidage qui supporte l'élément coulissant de telle sorte que l'élément coulissant puisse coulisser et présente une surface plate sur le côté conçu pour le rapprochement d'un objet à mesurer. Le gabarit de positionnement comprend : un corps de base possédant une partie réception dans laquelle l'élément de guidage est reçu et possédant, sur le côté de la surface plate, une surface ouverte à travers laquelle passe la pointe de la sonde ; un premier élément de contact s'étendant à partir du corps de base et possédant une première surface de contact amenée en contact de surface avec une première surface extérieure de l'objet à mesurer ; un deuxième élément de contact s'étendant à partir du premier élément de contact sur la surface ouverte et possédant une deuxième surface de contact amenée en contact de surface avec une troisième surface extérieure de l'objet à mesurer ; et un mécanisme de positionnement qui règle la position de la première surface de contact par rapport au corps de base et la position de la deuxième surface de contact par rapport au corps de base.
(JA) 膜厚計のプローブに装着して用いる測定治具とともに用いる、膜厚計の位置合わせ治具を提供する。測定治具は、プローブが固定されるスライド部材と、スライド部材をスライドさせるように支持し、測定対象物に接近させる側に平坦面を有するガイド部材と、を含む。位置合わせ治具は、ガイド部材が収容される収容部、及び上記平坦面の側にプローブの先端を通過させる開口面を有する基体と、基体から延出し測定対象物の第1外表面に面接触する第1接触面を有する第1接触部材と、開口面の第1接触部材から延出し測定対象物の第3外表面に面接触する第2接触面を有する第2接触部材と、第1接触面の基体に対する位置及び第2接触面の基体に対する位置を調節する位置決め機構を備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)