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1. (WO2018139359) 反射防止構造体
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国際公開番号: WO/2018/139359 国際出願番号: PCT/JP2018/001578
国際公開日: 02.08.2018 国際出願日: 19.01.2018
IPC:
G02B 1/118 (2015.01)
[IPC code unknown for G02B 1/118]
出願人:
王子ホールディングス株式会社 OJI HOLDINGS CORPORATION [JP/JP]; 東京都中央区銀座四丁目7番5号 7-5, Ginza 4-chome, Chuo-ku, Tokyo 1040061, JP
発明者:
大 紘太郎 DAI Kotaro; JP
篠塚 啓 SHINOTSUKA Kei; JP
代理人:
松沼 泰史 MATSUNUMA Yasushi; JP
川越 雄一郎 KAWAGOE Yuichiro; JP
柳井 則子 YANAI Noriko; JP
伏見 俊介 FUSHIMI Shunsuke; JP
君塚 哲也 KIMIZUKA Tetsuya; JP
優先権情報:
2017-01015924.01.2017JP
発明の名称: (EN) ANTIREFLECTION STRUCTURE
(FR) STRUCTURE ANTIREFLET
(JA) 反射防止構造体
要約:
(EN) An antireflection structure (1) provided with: a bottom part having a substantially circular outer edge part; and a plurality of bottomed cylindrical light-absorbing units (2) having wall parts rising along the outer edge part and whereby openings are formed above the bottom part; the antireflection structure (1) characterized in that the average height of the wall parts is 5 µm to 100 µm, the average opening diameter of the openings is 1 µm to 10 µm, and a kenzan structure comprising minute projections erected in a group at an average pitch of 10 nm to 500 nm is formed on the bottom part.
(FR) Selon la présente invention, une structure antireflet (1) est pourvue : d'une partie inférieure ayant une partie de bord externe sensiblement circulaire ; d'une pluralité d'unités d'absorption de lumière cylindriques ayant un fond (2) et des parties de paroi s'élevant le long de la partie de bord externe et des ouvertures étant formées au-dessus de la partie inférieure ; la structure antireflet (1) est caractérisée en ce que la hauteur moyenne des parties de paroi varie de 5 µm à 100 µm, le diamètre d'ouverture moyen des ouvertures varie de 1 µm à 10 µm, et une structure de kenzan, comprenant des projections minuscules érigées dans un groupe à un pas moyen variant de 10 nm à 500 nm, est formée sur la partie inférieure.
(JA) 略円形の外縁部を有する底部と、前記外縁部に沿って立ち上がる壁部を有し、前記底部の上方は開口部とされている有底筒状の吸光ユニット(2)を複数備えた反射防止構造体(1)であって、前記壁部の平均高さは5μm以上100μm以下であり、前記開口部の平均開口径は1μm以上10μm以下であり、前記底部に、平均ピッチ10nm以上500nm以下で群立する微小突起からなる剣山構造が形成されていることを特徴とする反射防止構造体(1)。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)