国際・国内特許データベース検索

1. (WO2018138838) 質量分析方法及び質量分析装置

Pub. No.:    WO/2018/138838    International Application No.:    PCT/JP2017/002774
Publication Date: Fri Aug 03 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Fri Jan 27 00:59:59 CET 2017
IPC: H01J 49/42
Applicants: SHIMADZU CORPORATION
株式会社島津製作所
Inventors: MIYAUCHI, Shinji
宮内 真二
UEDA, Hiroko
上田 浩子
UENO, Yoshihiro
上野 良弘
Title: 質量分析方法及び質量分析装置
Abstract:
分析時に制御部(7)は、適宜の量の不活性ガスが四重極マスフィルタ(4)の内部空間に導入されるようにガス導入部(11)を制御する。イオン源(2)で生成され四重極マスフィルタ(4)の内部空間を通過しようとするイオンは導入されたガスに接触しクーリングされる。四重極マスフィルタ(4)のロッド電極配置のずれ等によって、該フィルタ(4)で形成される四重極電場には多重極成分が重畳し、それによって非線形共鳴が生じる。四重極マスフィルタ(4)を通過するイオンがクーリングされることで、非線形共鳴による不所望のエネルギーの増加が抑制されるために、マススペクトル上でのピークの歪みが軽減される。