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1. (WO2018135507) 接触不良検出システム

Pub. No.:    WO/2018/135507    International Application No.:    PCT/JP2018/001103
Publication Date: Fri Jul 27 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Thu Jan 18 00:59:59 CET 2018
IPC: H01M 10/48
H01R 13/66
H01R 43/00
H02J 7/00
H02J 7/04
H02J 7/10
Applicants: PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO., LTD.
パナソニックIPマネジメント株式会社
Inventors: KOUJIYA Takuya
糀谷 卓也
KIMURA Tadao
木村 忠雄
Title: 接触不良検出システム
Abstract:
温度センサ(Tp、Tm)は、第1回路装置(10)のコネクタ(11)の活電部と第2回路装置(20)のコネクタ(21)の活電部との接触部分の温度を検出する。制御部(24)は、温度センサ(Tp、Tm)により検出された温度の所定時間当たりの変化量と、周囲温度の所定時間当たりの変化量との差分が設定値より大きい場合、前記活電部間に接触不良が発生していると判定する。