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1. (WO2018135008) 影響分析システム、計測項目最適化方法、および計測項目最適化プログラム

Pub. No.:    WO/2018/135008    International Application No.:    PCT/JP2017/002184
Publication Date: Fri Jul 27 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Tue Jan 24 00:59:59 CET 2017
IPC: G06F 11/34
G06F 11/30
Applicants: HITACHI, LTD.
株式会社日立製作所
Inventors: WADA, Kiyomi
和田 清美
MASUDA, Mineyoshi
増田 峰義
Title: 影響分析システム、計測項目最適化方法、および計測項目最適化プログラム
Abstract:
影響分析システムは、管理対象システムが提供するサービス群、管理対象システム内で実行されるアプリケーション群、および管理対象システムが有するシステムリソース群の各々についてサービスの良否または改善効果を計測するための計測項目とその評価値を管理する計測項目情報を記憶装置に定義し、端末からのサービス群内のサービスの指定に応じて、サービスの計測項目、サービスに利用されるアプリケーションの計測項目、およびサービスに利用されるシステムリソースの計測項目を計測して、サービスの計測項目に対してアプリケーションの計測項目およびシステムリソースの計測項目の関係性を定義する相関モデルと計測結果とを用いて相関分析し、サービスの計測項目、アプリケーションの計測項目、およびシステムリソースの計測項目から選択された計測項目の評価指示を端末から受け付けて、計測項目情報内の選択された計測項目の評価値を更新する。