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国際公開番号: WO/2018/128059 国際出願番号: PCT/JP2017/044689
国際公開日: 12.07.2018 国際出願日: 13.12.2017
IPC:
G01N 21/896 (2006.01) ,G01B 11/24 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84
特殊な応用に特に適合したシステム
88
きず,欠陥,または汚れの存在の調査
89
動いている材料,例.紙・織物,の中の
892
調査されるきず,欠陥,または対象物の特質に特徴付けられるもの
896
透明材料の内部または表面の光学的欠陥,例.歪・表面のきず
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11
光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
24
輪郭または曲率の測定用
出願人: NIPPON ELECTRIC GLASS CO., LTD.[JP/JP]; 7-1, Seiran 2-chome, Otsu-shi, Shiga 5208639, JP
発明者: KYURAGI Masafuku; JP
YAMAMOTO Koichi; JP
YAMAMOTO Masayoshi; JP
MINAMI Tomokazu; JP
YOSHINO Keiichi; JP
FUJII Takahide; JP
代理人: SHIROMURA Kunihiko; JP
KUMANO Tsuyoshi; JP
TOMOHIRO Shin-ichi; JP
優先権情報:
2017-00118606.01.2017JP
発明の名称: (EN) METHOD FOR INSPECTING GLASS PLATE, METHOD FOR MANUFACTURING SAME, AND DEVICE FOR INSPECTING GLASS PLATE
(FR) PROCÉDÉ D'INSPECTION D'UNE PLAQUE DE VERRE, SON PROCÉDÉ DE FABRICATION, ET DISPOSITIF D'INSPECTION DE PLAQUE DE VERRE
(JA) ガラス板の検査方法及びその製造方法並びにガラス板の検査装置
要約:
(EN) The present invention has disposed therein: a first imaging system 2 having a first light source 5, a first imaging unit 6 that captures a first transmitted light L1 that is emitted from the first light source 5 and passes through a glass plate G, and a shielding plate 7 that shields a portion of the first transmitted light L1 to form a bright portion and a dark portion in the field of view of the first imaging unit 6; and a second imaging system 3 that has a second light source 8 and a third light source 9, and a second imaging unit 10 that, while capturing, in a bright field, a second transmission light L2 that is emitted from the second light source 8 and passes through the glass plate G, captures, in a dark field, a third transmission light L3 that is emitted from the third light source 9 and passes through the glass plate G. The present invention sorts the types of defects of the glass plate G on the basis of images obtained by the first imaging system 2 and images obtained by the second imaging system 3.
(FR) La présente invention comprend : un premier système d'imagerie (2) comportant une première source de lumière (5), d'une première unité d'imagerie (6) qui capture une première lumière transmise (L1) émise à partir de la première source de lumière (5) et traversant une plaque de verre (G), et une plaque de protection (7) protégeant une partie de la première lumière transmise (L1) pour former une partie lumineuse et une partie sombre dans le champ de vision de la première unité d'imagerie (6) ; et un second système d'imagerie (3) comportant une deuxième source de lumière (8) et une troisième source de lumière (9), et une seconde unité d'imagerie (10) qui, tout en capturant, dans un champ lumineux, une seconde lumière de transmission (L2) qui est émise à partir de la deuxième source de lumière (8) et traverse la plaque de verre (G), capture, dans un champ sombre, une troisième lumière de transmission (L3) qui est émise à partir de la troisième source de lumière (9) et traverse la plaque de verre (G). La présente invention trie les types de défauts de la plaque de verre (G) en fonction des images obtenues par le premier système d'imagerie (2) et des images obtenues par le second système d'imagerie (3).
(JA) 第一光源5と、第一光源5から照射されてガラス板Gを透過した第一透過光L1を撮像する第一撮像部6と、第一透過光L1の一部を遮蔽して第一撮像部6の視野内に明部と暗部を形成する遮蔽板7とを有する第一撮像系2と、第二光源8及び第三光源9と、第二光源8から照射されてガラス板Gを透過した第二透過光L2を明視野で撮像しながら第三光源9から照射されてガラス板Gを透過した第三透過光L3を暗視野で撮像する第二撮像部10とを有する第二撮像系3とを配置し、第一撮像系2で得られた像と第二撮像系3で得られた像とに基づいてガラス板Gの欠陥の種類を識別する。
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)