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1. (WO2018124038) 検出装置、ファイバレーザ、ファイバレーザシステム
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国際公開番号: WO/2018/124038 国際出願番号: PCT/JP2017/046570
国際公開日: 05.07.2018 国際出願日: 26.12.2017
IPC:
G01J 1/02 (2006.01) ,G01J 1/00 (2006.01) ,G02B 6/42 (2006.01) ,H01L 31/0232 (2014.01) ,H01S 3/00 (2006.01) ,H01S 3/067 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
1
測光,例.写真の露出計
02
細部
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
1
測光,例.写真の露出計
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
6
ライトガイド;ライトガイドおよびその他の光素子,例.カップリング,からなる装置の構造的細部
24
ライトガイドのための結合
42
ライトガイドと光電素子との結合
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
31
赤外線,可視光,短波長の電磁波,または粒子線輻射に感応する半導体装置で,これらの輻射線エネルギーを電気的エネルギーに変換するかこれらの輻射線によって電気的エネルギーを制御かのどちらかに特に適用されるもの;それらの装置またはその部品の製造または処理に特に適用される方法または装置;それらの細部
02
細部
0232
装置と結合した光学素子または光学装置
H 電気
01
基本的電気素子
S
誘導放出を用いた装置
3
レーザ,すなわち誘導放出を用いた赤外線,可視光あるいは紫外線の発生,増幅,変調,復調あるいは周波数変換のための装置
H 電気
01
基本的電気素子
S
誘導放出を用いた装置
3
レーザ,すなわち誘導放出を用いた赤外線,可視光あるいは紫外線の発生,増幅,変調,復調あるいは周波数変換のための装置
05
光学的な共振器の構造または形状;活性媒質の調整;活性媒質の形状
06
活性媒質の構造または形状
063
導波路型レーザ,例.レーザ増幅器
067
ファイバ型レーザ
出願人:
株式会社フジクラ FUJIKURA LTD. [JP/JP]; 東京都江東区木場1丁目5番1号 1-5-1, Kiba, Koto-ku, Tokyo 1358512, JP
発明者:
吉田 謙介 YOSHIDA, Kensuke; JP
代理人:
特許業務法人HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK; 大阪府大阪市北区天神橋2丁目北2番6号 大和南森町ビル Daiwa Minamimorimachi Building, 2-6, Tenjinbashi 2-chome Kita, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300041, JP
優先権情報:
2016-25354527.12.2016JP
発明の名称: (EN) DETECTION APPARATUS, FIBER LASER, FIBER LASER SYSTEM
(FR) APPAREIL DE DÉTECTION, LASER À FIBRE ET SYSTÈME LASER À FIBRE
(JA) 検出装置、ファイバレーザ、ファイバレーザシステム
要約:
(EN) The purpose of the present invention is to suppress, better than a conventional method, an increase of errors contained in a monitored value which is associated with a change in the relative positions of an optical fiber, a reflector, and a photodetector. Provided is a detection apparatus (1) that detects Rayleigh scattered light leaking from a side surface of an optical fiber (OF), the detection apparatus (1) comprising: a photodiode (11a) that has a light-receiving surface (11a1); and a base plate (12) that has an upper surface (12a) facing the light-receiving surface (11a1) with the optical fiber (OF) therebetween, wherein the upper surface (12a) of the base plate (12) is flat.
(FR) L'objectif de la présente invention est de supprimer, mieux qu'un procédé classique, une augmentation d'erreurs contenues dans une valeur surveillée qui est associée à un changement des positions relatives d'une fibre optique, d'un réflecteur et d'un photodétecteur. L'invention concerne un appareil de détection (1) qui détecte une lumière diffusée de Rayleigh qui fuit d'une surface latérale d'une fibre optique (OF), l'appareil de détection (1) comprenant : une photodiode (11a) qui possède une surface de réception de lumière (11a1) ; et une plaque de base (12) qui possède une surface supérieure (12a) qui fait face à la surface de réception de lumière (11a1) avec la fibre optique (OF) entre celles-ci, la surface supérieure (12a) de la plaque de base (12) étant plate.
(JA) 光ファイバ、反射体、及び光検出器の相対位置の変化に伴う、モニタ値に含まれる誤差の増加を、従来よりも小さく抑える。光ファイバ(OF)の側面から漏出したレイリー散乱光を検出する検出装置(1)において、受光面(11a1)を有するフォトダイオード(11a)と、光ファイバ(OF)を介して受光面(11a1)と対向する上面(12a)を有するベースプレート(12)と、を備えており、ベースプレート(12)の上面(12a)は、平坦である。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)