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1. (WO2018123236) 自動分析装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2018/123236 国際出願番号: PCT/JP2017/038296
国際公開日: 05.07.2018 国際出願日: 24.10.2017
IPC:
G01N 21/01 (2006.01) ,G01J 3/10 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01) ,G01N 21/59 (2006.01) ,G01N 35/00 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
01
光学的調査を容易に行なうための配置または装置
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
3
分光測定;分光光度測定;モノクロメータ;色の測定
02
細部
10
特に分光測定または比色測定に適用される光源の構成
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25
色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27
光電検出器を用いるもの
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
59
透過率
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
35
グループ1/00から33/00のいずれか1つに分類される方法または材料に限定されない自動分析;そのための材料の取扱い
出願人:
株式会社日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
発明者:
石田 猛 ISHIDA Takeshi; JP
山崎 功夫 YAMAZAKI Isao; JP
足立 作一郎 ADACHI Sakuichiro; JP
今村 伸 IMAMURA Shin; JP
代理人:
特許業務法人平木国際特許事務所 HIRAKI & ASSOCIATES; 東京都港区愛宕二丁目5-1 愛宕グリーンヒルズMORIタワー32階 Atago Green Hills MORI Tower 32F, 5-1, Atago 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1056232, JP
優先権情報:
2016-25291327.12.2016JP
発明の名称: (EN) AUTOMATED ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE AUTOMATISÉ
(JA) 自動分析装置
要約:
(EN) This automated analysis device is provided with: a light source which generates light having a central wavelength of 340 nm or less; a fluorescent body which emits light by being excited by light from the light source and which generates light having a wavelength of 340-800 nm in combination with transmitted light of the light source; a condensing lens; at least one slit; a reaction cell which retains a reaction liquid obtained by mixing a sample and a reagent and on which the light from the light source and the light from the fluorescent body are incident; and a detector which detects light transmitted through the reaction cell, wherein the light source, the fluorescent body, the condensing lens, and the slit are disposed along a straight line corresponding to the optical axis, and the slit has an opening having a width equal to or narrower than the width, at the position of the slit, of a light beam forming an image of the light source.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'analyse automatisé comprenant: une source de lumière qui génère une lumière ayant une longueur d'onde centrale inférieure ou égale à 340 nm; un corps fluorescent qui émet une lumière en étant excité par la lumière provenant de la source de lumière et qui génère une lumière ayant une longueur d'onde de 340 à 800 nm en combinaison avec la lumière transmise par la source de lumière; une lentille de condensation; au moins une fente; une cellule réactionnelle qui contient un liquide réactionnel obtenu par le mélange d'un échantillon et d'un réactif et sur laquelle la lumière provenant de la source de lumière et la lumière provenant du corps fluorescent sont incidentes; et un détecteur qui détecte la lumière transmise à travers la cellule réactionnelle, la source de lumière, le corps fluorescent, la lentille de condensation et la fente étant disposés le long d'une ligne droite correspondant à l'axe optique, et la fente ayant une ouverture possédant une largeur inférieure ou égale à la largeur, à la position de la fente, d'un faisceau lumineux formant une image de la source de lumière.
(JA) 自動分析装置は、中心波長が340nm以下の光を発生する光源と、前記光源の光によって励起されて発光し、前記光源の透過光と合わせて波長340nm~800nmの光を発生する蛍光体と、集光レンズと、少なくとも1つのスリットと、試料と試薬とが混合した反応溶液を保持し、前記光源からの光と前記蛍光体からの光が入射する反応セルと、前記反応セルを透過した光を検出する検出器とを備え、前記光源と前記蛍光体と前記集光レンズと前記スリットが、光軸と一致する直線に沿って配置されており、前記スリットの開口部の幅は、前記スリットの位置における前記光源の像を作る光線の幅以下である。
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)