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1. (WO2018117065) 処理装置
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国際公開番号: WO/2018/117065 国際出願番号: PCT/JP2017/045420
国際公開日: 28.06.2018 国際出願日: 19.12.2017
IPC:
G05B 9/03 (2006.01)
G 物理学
05
制御;調整
B
制御系または調整系一般;このような系の機能要素;このような系または要素の監視または試験装置
9
安全装置
02
電気式
03
多重チャンネルループ,すなわち.冗長制御系
出願人:
株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
発明者:
今澤 貴夫 IMAZAWA, Takao; JP
白石 雅裕 SHIRAISHI, Masahiro; JP
西川 悟史 NISHIKAWA, Satoshi; JP
道券 知彦 DOKEN, Tomohiko; JP
代理人:
特許業務法人ウィルフォート国際特許事務所 WILLFORT INTERNATIONAL PATENT FIRM; 東京都中央区日本橋小網町19-7 日本橋TCビル 1階 Nihonbashi TC Bldg. 1F, 19-7, Nihonbashi Koamicho, Chuo-ku, Tokyo 1030016, JP
優先権情報:
2016-24625120.12.2016JP
発明の名称: (EN) PROCESSING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE TRAITEMENT
(JA) 処理装置
要約:
(EN) Provided is a technology for enabling detection even when an abnormality is caused by a common cause failure. This processing device has: multiple processing circuit systems that have mutually different hardware configurations, and perform the same process and output the same output signal with respect to the same input signal; and an output signal comparison unit that compares the output signals from the multiple processing circuit systems, and outputs a comparison result. The multiple processing circuit systems have mutually different hardware configurations, so a different signal appears as the output signal even if a common cause failure occurs, and an abnormality can be detected by comparing those output signals.
(FR) L'invention concerne une technologie permettant une détection même lorsqu'une anomalie est provoquée par une défaillance d'origine commune. Le dispositif de traitement comprend : de multiples systèmes de circuit de traitement qui comportent des configurations matérielles mutuellement différentes, et mettent en oeuvre le même processus et produisent le même signal de sortie par rapport au même signal d'entrée ; et une unité de comparaison de signaux de sortie, qui compare les signaux de sortie provenant des multiples systèmes de circuit de traitement et produit un résultat de comparaison. Les multiples systèmes de circuit de traitement comportent des configurations matérielles mutuellement différentes, de sorte qu'un signal différent apparaît en tant que signal de sortie même si une défaillance d'origine commune se produit, et une anomalie peut être détectée par la comparaison de ces signaux de sortie.
(JA) 共通要因故障に起因する異常であっても検出を可能にする技術を提供する。 処理装置は、互いに異なるハードウェア構成を有し、同一の入力信号に対して同一の処理を行い、同一の出力信号を生成する複数系の処理回路と、前記複数系の処理回路の出力信号を照合し照合結果を出力する出力信号照合部と、を有する。複数系の処理回路が互いに異なるハードウェア構成を有しているので、共通要因故障が発生しても、出力信号には異なる信号が現れ、それら出力信号を対比することにより異常を検出することが可能である。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)