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1. (WO2018116887) 測定装置、校正方法、及び、測定装置用プログラム

Pub. No.:    WO/2018/116887    International Application No.:    PCT/JP2017/044411
Publication Date: Fri Jun 29 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Tue Dec 12 00:59:59 CET 2017
IPC: G01N 27/26
G01N 27/416
Applicants: HORIBA, LTD.
株式会社堀場製作所
HORIBA ADVANCED TECHNO, CO., LTD.
株式会社堀場アドバンスドテクノ
Inventors: TARUI, Yoshihiro
樽井 克泰
EHARA, Katsunobu
江原 克信
Title: 測定装置、校正方法、及び、測定装置用プログラム
Abstract:
測定現場とは別の場所での校正作業を可能としつつ、大幅な設備更新を行わなくてもよい測定装置を提供するために、標準液又は被検液に浸漬される電極と、標準液に浸漬された前記電極と第1ケーブルを介して着脱可能に接続され、前記電極から出力されるアナログ出力に基づいて当該電極の校正データを算出する第1装置本体と、前記電極、前記第1装置本体、及び、前記第1ケーブルの外側に別体として設けられたメモリ上に記憶領域が設定されており、前記第1装置本体で算出された校正データを記憶する校正データ外部記憶部とを備え、前記第1装置本体が、前記電極の校正データを前記校正データ外部記憶部に対して外部出力する校正データ外部出力部を具備し、前記校正データ外部記憶部に記憶されている校正データが、当該校正データ外部記憶部から前記第1装置本体とは別の装置本体へ送信されるように構成した。