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1. (WO2018116756) ガラス基板の製造方法
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国際公開番号: WO/2018/116756 国際出願番号: PCT/JP2017/042540
国際公開日: 28.06.2018 国際出願日: 28.11.2017
IPC:
C03B 33/037 (2006.01) ,G01N 21/958 (2006.01) ,G02F 1/1333 (2006.01)
C 化学;冶金
03
ガラス;鉱物またはスラグウール
B
ガラス、鉱物またはスラグウールの製造または成形;または、ガラス、鉱物またはスラグウールの製造または成形における補助プロセス
33
冷えたガラスの切断
02
板ガラスの切断または欠き;そのための装置あるいは機械
023
水平位置にある板ガラス
037
制御または調整
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84
特殊な応用に特に適合したシステム
88
きず,欠陥,または汚れの存在の調査
95
調査対象物の材質や形に特徴付けられるもの
958
透明な材料の検査
G 物理学
02
光学
F
光の強度,色,位相,偏光または方向の制御,例.スイッチング,ゲーテイング,変調または復調のための装置または配置の媒体の光学的性質の変化により,光学的作用が変化する装置または配置;そのための技法または手順;周波数変換;非線形光学;光学的論理素子;光学的アナログ/デジタル変換器
1
独立の光源から到達する光の強度,色,位相,偏光または方向の制御のための装置または配置,例.スィッチング,ゲーテイングまたは変調;非線形光学
01
強度,位相,偏光または色の制御のためのもの
13
液晶に基づいたもの,例.単一の液晶表示セル
133
構造配置;液晶セルの作動;回路配置
1333
構造配置
出願人:
日本電気硝子株式会社 NIPPON ELECTRIC GLASS CO., LTD. [JP/JP]; 滋賀県大津市晴嵐2丁目7番1号 7-1, Seiran 2-chome, Otsu-shi, Shiga 5208639, JP
発明者:
西川 佳範 NISHIKAWA Yoshinori; JP
代理人:
城村 邦彦 SHIROMURA Kunihiko; JP
熊野 剛 KUMANO Tsuyoshi; JP
優先権情報:
2016-24696020.12.2016JP
発明の名称: (EN) METHOD FOR MANUFACTURING GLASS SUBSTRATE
(FR) PROCÉDÉ DE FABRICATION D’UN SUBSTRAT EN VERRE
(JA) ガラス基板の製造方法
要約:
(EN) This method for manufacturing a glass substrate includes a process 1 for manufacturing a glass substrate from a mother glass plate. In the process 1 for manufacturing a glass substrate, in a defect detection step S1, an overall defect which comprises a pass defect that has passed a predetermined criterion and a fail defect that has failed the criterion is detected from the mother glass plate. Then, in a lot formation step S3, a lot is formed from a plurality of the mother glass plates. In a data calculation step S4, the average number of the overall defects or the pass defects per mother glass plate in the lot is calculated. In a lot determination step S5, a determination is made on whether the lot passes or fails on the basis of the average number of the overall defects or the pass defects calculated in the data calculation step S4.
(FR) L'invention concerne un procédé de fabrication d'un substrat en verre comprenant un procédé 1 de fabrication d'un substrat en verre à partir d'une plaque de verre mère. Dans le procédé 1 pour fabriquer un substrat en verre, dans une étape S1 de détection de défaut, un défaut global qui comprend un défaut de passage qui a dépassé un critère prédéterminé et un défaut de défaillance pour un échec de critère est détecté sur la plaque de verre mères. Ensuite, dans une étape S3 de formation de lot, un lot est formé à partir d'une pluralité de plaques de verre mère. Dans une étape S4 de calcul de données, le nombre moyen des défauts globaux ou de défauts de passage par plaque de verre mère dans le lot est calculé. Dans une étape de détermination de lot S5, une détermination est effectuée pour déterminer si le lot réussit ou échoue sur la base du nombre moyen des défauts globaux ou des défauts de passage calculés dans l'étape S4 de calcul de données.
(JA) ガラス基板の製造方法は、マザーガラス板からガラス基板を製造する工程1を含む。ガラス基板を製造する工程1では、欠陥検出工程S1で、所定の判定基準で合格とされる合格欠陥と前記判定基準で不合格とされる不合格欠陥から成る総合欠陥を前記マザーガラス板から検出する。その後に、ロット形成工程S3で、複数枚の前記マザーガラス板で1つのロットを形成する。データ算出工程S4で、前記ロットに対して前記マザーガラス板1枚当りの前記総合欠陥又は前記合格欠陥の平均個数が算出される。そして、ロット判定工程S5で、データ算出工程S4で算出された前記総合欠陥又は前記合格欠陥の平均個数に基づき、前記ロットの合否を判定する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)