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1. (WO2018116443) 質量分析装置及び質量分析装置用プログラム

Pub. No.:    WO/2018/116443    International Application No.:    PCT/JP2016/088340
Publication Date: Fri Jun 29 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Fri Dec 23 00:59:59 CET 2016
IPC: G01N 27/62
H01J 49/04
H01J 49/42
Applicants: SHIMADZU CORPORATION
株式会社島津製作所
Inventors: SAITO, Maki
齋藤 牧紀
KOBAYASHI, Yuko
小林 裕子
SHIOHAMA, Tohru
塩浜 徹
Title: 質量分析装置及び質量分析装置用プログラム
Abstract:
質量分析装置の表示部が表示するチューニング結果を表す画面60に、全チューニング項目と、各チューニング項目についてチューニング作業が完了したか否かの結果を表示するチューニング項目表示部62と、前記結果に基づき、分析が可能な条件を表示する分析可能条件表示部63とを含めた。チューニング項目は、細かい項目を個々に表示するという形態であってもよいし、複数のチューニング項目をグループ毎にまとめた形態であってもよい。これにより、使用者がこれから行おうとする分析に際して必要であるチューニングが既に行われているか否かが一目で分かる。仮に、必要なチューニング項目のチューニング作業が未だ完了していないのであれば、直ちにそのチューニング項目についての(そのチューニング項目に絞った)チューニング作業に入ることができる。また、これから行おうとする分析が現在のチューニング状態の下で可能か否かが直ちに分かるため、使用者は、可能である場合にはそのまま分析を開始することができ、不可能である場合にはチューニング項目表示部62に表示されている未完了チューニング項目に絞ったチューニングを行うことができる。