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1. (WO2018110540) 分類分析方法、分類分析装置および分類分析用記憶媒体

Pub. No.:    WO/2018/110540    International Application No.:    PCT/JP2017/044534
Publication Date: Fri Jun 22 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Wed Dec 13 00:59:59 CET 2017
IPC: G01N 15/14
G01N 27/00
Applicants: OSAKA UNIVERSITY
国立大学法人大阪大学
Inventors: WASHIO Takashi
鷲尾 隆
KAWAI Tomoji
川合 知二
TANIGUCHI Masateru
谷口 正輝
TSUTSUI Makusu
筒井 真楠
YOKOTA Kazumichi
横田 一道
ISHII Akira
石井 陽
YOSHIDA Takeshi
吉田 剛
Title: 分類分析方法、分類分析装置および分類分析用記憶媒体
Abstract:
本願発明の課題は、粒子状または分子状の分析物の分類分析を高精度に行うことのできる分類分析方法、分類分析装置および分類分析用記憶媒体を提供することである。上記課題を解決するため、検体の粒子の貫通孔12の通過に応じて、ナノポアデバイス8によって検出した粒子通過検出信号のデータ群をベースにして、所定の分析物の通過に対応するパルス状信号の波形形態の特徴を示す特徴量をあらかじめ求め、あらかじめ求めた特徴量を機械学習のための学習データとし、被分析データのパルス状信号から得られる特徴量を変数にして、機械学習による分類分析プログラムを実行することによって、該被分析データにおける所定の分析物に関する分類分析を行うことができる。