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1. (WO2018110145) 自動分析装置及び自動分析方法

Pub. No.:    WO/2018/110145    International Application No.:    PCT/JP2017/040023
Publication Date: Fri Jun 22 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Wed Nov 08 00:59:59 CET 2017
IPC: G01N 35/02
G01N 35/10
Applicants: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION
株式会社日立ハイテクノロジーズ
Inventors: FUKAYA, Masashi
深谷 昌史
AZUMA, Shinji
東 信二
TAKAHASHI, Takuya
高橋 拓也
ITO, Takumi
伊藤 匠
Title: 自動分析装置及び自動分析方法
Abstract:
自動分析装置の洗浄機構に関して、反応容器の洗浄範囲のばらつき等を抑制でき、ブランク値測定等への影響を抑制できる技術を提供する。自動分析装置は、光学測定及び洗浄を含むシーケンスを制御し、反応容器2内に液体を吐出するための吐出ノズル(システム水吐出ノズル44)を含む吐出機構と、反応容器2内の液体の溢れ分を吸引するための溢れ吸引ノズル54を含む溢れ吸引機構とを有する。自動分析装置は、洗浄工程のうち、洗剤を用いた工程よりも後で、ブランク値測定工程よりも前にある液体吐出工程(工程S8)において、吐出ノズルの下端を反応容器内の高さ方向の下部の第1位置(Z1)に配置し、かつ、溢れ吸引ノズルの下端を反応容器内の上部の第2位置(Z2)に配置した第1状態で、吐出ノズルからの液体の吐出、及び溢れ吸引ノズルからの溢れ分の吸引を行うように制御する。