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1. (WO2018110112) 検査装置、検査方法、およびプログラム

Pub. No.:    WO/2018/110112    International Application No.:    PCT/JP2017/038687
Publication Date: Fri Jun 22 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Fri Oct 27 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01M 11/00
F21S 2/00
G02F 1/13
G02F 1/13357
G06T 1/00
F21Y 115/10
Applicants: OMRON CORPORATION
オムロン株式会社
Inventors: KONISHI, Yoshinori
小西 嘉典
Title: 検査装置、検査方法、およびプログラム
Abstract:
検査装置は、面光源装置の発光面を撮影した画像である発光面画像を取得する画像取得部と、発光面画像内の不具合が現れ得る位置に検査範囲を設定し、検査範囲から下限閾値よりも明るい領域である明領域を検出し、明領域の大きさと明領域の輝度の両方を評価する評価値を計算し、評価値に基づいて不具合の有無を判定する検査部と、検査部により得られた情報を出力する出力部と、を有する。