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1. (WO2018110090) 検査装置、検査方法、およびプログラム
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国際公開番号: WO/2018/110090 国際出願番号: PCT/JP2017/038328
国際公開日: 21.06.2018 国際出願日: 24.10.2017
IPC:
G01M 11/00 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
M
機械または構造物の静的または動的つり合い試験;他に分類されない構造物または装置の試験
11
光学装置の試験;他に分類されない光学的方法による構造物の試験
出願人:
オムロン株式会社 OMRON CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市下京区塩小路通堀川東入南不動堂町801番地 801, Minamifudodo-cho, Horikawahigashiiru, Shiokoji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6008530, JP
発明者:
小西 嘉典 KONISHI, Yoshinori; JP
代理人:
関根 武彦 SEKINE, Takehiko; JP
中村 剛 NAKAMURA, Go; JP
今堀 克彦 IMABORI, Katsuhiko; JP
和久田 純一 WAKUTA, Jun-ichi; JP
矢澤 広伸 YAZAWA, Hironobu; JP
優先権情報:
2016-24323215.12.2016JP
発明の名称: (EN) INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION, PROCÉDÉ D'INSPECTION ET PROGRAMME
(JA) 検査装置、検査方法、およびプログラム
要約:
(EN) This inspection device has: an image acquisition unit for acquiring a light emission surface image that is an image obtained by capturing a light emission surface of a surface light source device; an inspection unit for setting an inspection range at a position where defects in the light emission surface image can appear, generating a one-dimensional brightness profile indicating a change of a brightness value along a first side in the inspection range, detecting extreme values of the brightness profile, calculating an evaluation value for evaluating the difference between adjacent extreme values, and determining the presence/absence of a defect on the basis of the evaluation value; and an output unit for outputting information acquired by the inspection unit.
(FR) Ce dispositif d'inspection comprend : une unité d'acquisition d'image permettant d'acquérir une image de surface d'émission de lumière qui est une image obtenue en capturant une surface d'émission de lumière d'un dispositif source de lumière de surface ; une unité d'inspection permettant de définir une plage d'inspection au niveau d'une position où peuvent apparaître des défauts dans l'image de surface d'émission de lumière, de générer un profil de luminosité unidimensionnel indiquant un changement d'une valeur de luminosité le long d'un premier côté dans la plage d'inspection, de détecter des valeurs extrêmes du profil de luminosité, de calculer une valeur d'évaluation permettant d'évaluer la différence entre des valeurs extrêmes adjacentes, et de déterminer la présence/absence d'un défaut sur la base de la valeur d'évaluation ; et une unité de sortie permettant de délivrer des informations acquises par l'unité d'inspection.
(JA) 検査装置は、面光源装置の発光面を撮影した画像である発光面画像を取得する画像取得部と、発光面画像内の不具合が現れ得る位置に検査範囲を設定し、検査範囲内における前記第1の辺に沿う輝度値の変化を示す1次元の輝度プロファイルを生成し、輝度プロファイルの極値を検出し、隣り合う極値の間の差分を評価する評価値を計算し、評価値に基づいて不具合の有無を判定する検査部と、検査部により得られた情報を出力する出力部と、を有する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)