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1. (WO2018109920) 質量分析装置

Pub. No.:    WO/2018/109920    International Application No.:    PCT/JP2016/087512
Publication Date: Fri Jun 22 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Sat Dec 17 00:59:59 CET 2016
IPC: H01J 49/40
G01N 27/62
H01J 49/06
H01J 49/42
Applicants: SHIMADZU CORPORATION
株式会社島津製作所
Inventors: UENO, Yoshihiro
上野 良弘
FURUHASHI, Osamu
古橋 治
TATEISHI, Yusuke
立石 勇介
Title: 質量分析装置
Abstract:
イオンをその導入方向と略直交する方向に射出することが可能なイオン押出部(5)を挟んで両側に、飛行時間型質量分析部(7)とイオントラップ(6)とを設ける。飛行時間型質量分析部(7)の飛行空間(8)内には、主反射器(10)を挟んで一対のMR用反射器(9A、9B)と非破壊型の副イオン検出器(12)を配置する。Q-TOFモード時には、イオン押出部(5)から射出したイオンを飛行軌道(A)に沿って飛行させて主イオン検出器(11)で検出する。MR-TOFMSモード時には、イオン押出部(5)から吐き出したイオンをイオントラップ(6)に捕捉し、該イオントラップ(6)から射出したイオンを飛行軌道(A)に導入し、一対のMR用反射器(9A、9B)間を複数回往復動させたあとに主イオン検出器(11)で検出する。FT-MSモード時には、一対のMR用反射器(9A、9B)間を往復動するイオンを副イオン検出器(12)で検出し、その検出信号をフーリエ変換してマススペクトルを取得する。これにより、質量分解能と測定周期が異なる測定が一台の装置で可能となる。