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1. (WO2018105541) 検査装置及び検査方法
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国際公開番号: WO/2018/105541 国際出願番号: PCT/JP2017/043416
国際公開日: 14.06.2018 国際出願日: 04.12.2017
IPC:
G01S 7/40 (2006.01) ,H04B 17/00 (2015.01)
G 物理学
01
測定;試験
S
無線による方位測定;無線による航行;電波の使用による距離または速度の決定;電波の反射または再輻射を用いる位置測定または存在探知;その他の波を用いる類似の装置
7
グループ13/00,15/00,17/00による方式の細部
02
グループ13/00による方式のもの
40
監視または校正用の手段
H 電気
04
電気通信技術
B
伝送
17
監視;試験
出願人:
アルプス電気株式会社 ALPS ELECTRIC CO., LTD. [JP/JP]; 東京都大田区雪谷大塚町1番7号 1-7, Yukigaya-otsukamachi, Ota-ku, Tokyo 1458501, JP
発明者:
渡邊 文夫 WATANABE, Fumio; JP
代理人:
野▲崎▼ 照夫 NOZAKI, Teruo; JP
優先権情報:
2016-23556305.12.2016JP
発明の名称: (EN) INSPECTING DEVICE AND INSPECTING METHOD
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION ET PROCÉDÉ D'INSPECTION
(JA) 検査装置及び検査方法
要約:
(EN) [Problem] To provide an inspecting device and an inspecting method with which it is possible to reduce a measuring time for one high-frequency module and to reduce manufacturing costs significantly. [Solution] An inspecting device 100 is provided with: a holding unit 30 capable of holding a high-frequency module 70; an antenna unit 10 which receives and/or transmits a test signal capable of being transmitted or received by the high-frequency module 70; and a parabolic reflector plate 20 which reflects the test signal in a predetermined direction. The holding unit 30 is provided with a holding surface 31 for disposing a plurality of the high-frequency modules 70 side-by-side. The reflector plate 20 is disposed in such a way as to face the holding surface 31, and the antenna unit 10 is disposed at a focal point position 21 of the reflector plate 20.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'inspection et un procédé d'inspection avec lesquels il est possible de réduire un temps de mesure pour un module haute fréquence et de réduire significativement les coûts de fabrication. Le dispositif d'inspection 100 de l'invention comprend: une unité de maintien 30 qui est capable de maintenir un module haute fréquence 70; une unité d'antenne 10 qui reçoit et/ou émet un signal de test pouvant être émis ou reçu par le module haute fréquence 70; et une plaque de réflecteur parabolique 20 qui réfléchit le signal de test dans une direction prédéterminée. L'unité de maintien 30 est pourvue d'une surface de maintien 31 servant à disposer une pluralité des modules haute fréquence 70 côte à côte. La plaque de réflecteur 20 est disposée de manière à être orientée vers la surface de support 31, et l'unité d'antenne 10 est disposée au niveau d'une position de foyer 21 de la plaque de réflecteur 20.
(JA) 【課題】高周波モジュール1台当たりの測定時間を短縮して、製造コストを大幅に引き下げることができる検査装置及び検査方法を提供する。 【解決手段】検査装置100は、高周波モジュール70を保持可能な保持部30と、高周波モジュール70が送信又は受信可能な試験信号の受信及び又は送信を行うアンテナ部10と、試験信号を所定の方向へ反射するパラボラ形状の反射板20と、を備え、保持部30には、複数の高周波モジュール70を並べて配置するための保持面31が設けられており、反射板20は、保持面31と対向するように配置されており、アンテナ部10は、反射板20の焦点位置21に配置されている。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)