WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2018105149) 検査装置及びPTP包装機
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2018/105149    国際出願番号:    PCT/JP2017/021812
国際公開日: 14.06.2018 国際出願日: 13.06.2017
IPC:
G01N 21/892 (2006.01), B65B 9/04 (2006.01), B65B 57/00 (2006.01), B65B 57/10 (2006.01), G01N 21/85 (2006.01)
出願人: CKD CORPORATION [JP/JP]; 250, Ouji 2-chome, Komaki-shi, Aichi 4858551 (JP)
発明者: TAGUCHI Yukihiro; (JP).
INOGUCHI Tadashi; (JP)
代理人: KAWAGUCHI Mitsuo; (JP)
優先権情報:
2016-238322 08.12.2016 JP
発明の名称: (EN) INSPECTION DEVICE AND PTP PACKAGING MACHINE
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION ET MACHINE D'EMBALLAGE SOUS PLAQUETTE ALVÉOLÉE (PTP)
(JA) 検査装置及びPTP包装機
要約: front page image
(EN)Provided are an inspection device, and the like, that, while making it possible to prevent, for example, influence on inspection, make processing using ordinary image processing software possible, make it possible to include attribute information in image data for inspection, and make it possible to simplify data management and reduce processing load. This inspection device is provided with a quality determination means for determining the quality of a part to be inspected on the basis of image data for inspection that is data for an image for inspection of the part to be inspected. The image data for inspection includes data for each pixel corresponding to an area TA2 to be inspected that is the area to be subjected to the determination by the quality determination means and data for each pixel corresponding to an area TB2 not to be inspected that is an area other than the area TA2 to be inspected. The inspection device overwrites at least a portion of the pixel data corresponding to the area TB2 not to be inspected with attribute information relating to inspection.
(FR)L'invention concerne un dispositif d'inspection, et dispositif analogue, qui, tout en permettant d'empêcher, par exemple une influence sur l'inspection, permet un traitement à l'aide d'un logiciel de traitement d'image ordinaire, permet d'inclure des informations d'attribut dans des données d'image à des fins d'inspection, et permet de simplifier la gestion de données et de réduire la charge de traitement. Ce dispositif d'inspection est pourvu d'un moyen de détermination de qualité destiné à déterminer la qualité d'une pièce devant être inspectée sur la base de données d'image pour l'inspection qui sont des données d'une image pour l'inspection de la pièce devant être inspectée. Les données d'image pour l'inspection comprennent des données pour chaque pixel correspondant à une zone TA2 devant être inspectée qui est la zone devant être soumise à la détermination par le moyen de détermination de qualité, ainsi que des données pour chaque pixel correspondant à une zone TB2 qui ne doit pas être inspectée et qui est une zone autre que la zone TA2 devant être inspectée. Ce dispositif d'inspection écrase au moins une partie des données de pixel correspondant à la zone TB2 qui ne doit pas être inspectée avec des informations d'attribut relatives à l'inspection.
(JA)検査に影響が及んでしまうこと等を防止できるとともに、一般の画像処理ソフトを用いた処理を可能としつつ、検査用画像データに対し属性情報を含ませることができ、データ管理の簡略化や処理負担の軽減を図ることができる検査装置等を提供する。検査装置は、被検査部に係る検査用画像のデータである検査用画像データに基づき、被検査部の良否を判定する良否判定手段を備える。検査用画像データは、前記良否判定手段による判定の対象となる検査対象領域TA2に対応する各画素のデータと、検査対象領域TA2以外の領域である非検査対象領域TB2に対応する各画素のデータとを含む。検査装置は、非検査対象領域TB2に対応する各画素のデータの少なくとも一部を、検査に関する属性情報に書き換える。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)