国際・国内特許データベース検索

1. (WO2018101076) 半導体装置、および電位測定装置

Pub. No.:    WO/2018/101076    International Application No.:    PCT/JP2017/041417
Publication Date: Fri Jun 08 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Sat Nov 18 00:59:59 CET 2017
IPC: G01N 27/416
C25D 7/12
C25D 21/12
G01R 29/12
Applicants: SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION
ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社
Inventors: SATO Masahiro
佐藤 正啓
KAMETANI Machiko
亀谷 真知子
OGI Jun
小木 純
KATO Yuri
加藤 祐理
Title: 半導体装置、および電位測定装置
Abstract:
本開示は、電極と増幅器とを同一基板に設けるとき、電極メッキプロセスを実現できる構成を設けることで生じる寄生容量による信号特性の劣化を抑制することができるようにする半導体装置、および電位測定装置に関する。 電源が、メッキ処理を施すときに必要とされる電位を供給し、遮断部が、液体から信号を読み出して、増幅器で増幅して信号を出力するとき、メッキ処理に必要とされる電源を電極に対して遮断する。電位測定装置に適用することができる。