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1. (WO2018083930) 放射線断層撮影装置の撮像倍率校正方法

Pub. No.:    WO/2018/083930    International Application No.:    PCT/JP2017/035979
Publication Date: Sat May 12 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Wed Oct 04 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01N 23/04
Applicants: SHIMADZU CORPORATION
株式会社島津製作所
Inventors: SATO Makoto
佐藤 真
Title: 放射線断層撮影装置の撮像倍率校正方法
Abstract:
(撮影位置である)第1の箇所P1、(第1の箇所P1とは別の)第2の箇所P2におけるテーブル上の校正用器物(器物)Iの投影像の大きさL1、L2と、第1の箇所P1、第2の箇所P2におけるテーブルの回転中心軸Axとの間の距離sとに基づいて、距離SRDを求めることができる。さらに、その求められた距離SRDと、X線検出器4と第1の箇所P1でのテーブルの回転中心軸Axとの間の距離とを加算することにより、距離SDDを求めることができ、これら求められた距離SRD,SDDの比率を、第1の箇所P1における撮影の撮像倍率とする。