国際・国内特許データベース検索

1. (WO2018083772) 顕微鏡システム

Pub. No.:    WO/2018/083772    International Application No.:    PCT/JP2016/082717
Publication Date: Sat May 12 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Thu Nov 03 00:59:59 CET 2016
IPC: G02B 21/00
Applicants: NIKON CORPORATION
株式会社ニコン
Inventors: DAKE Fumihiro
嶽 文宏
Title: 顕微鏡システム
Abstract:
標本に含まれる第1の蛍光物質を励起する第1の光を周波数f1で強度変調する第1の強度変調部と、第1の蛍光物質において誘導放出を生じさせる第2の光を周波数f1とは異なる周波数f2で強度変調する第2の強度変調部と、第1の光および第2の光を標本において走査する走査部と、標本からの蛍光を検出する検出部とを備え、走査部は、共振ミラーを有するレゾナントスキャナを有し、検出部は、標本からの蛍光を受光し、周波数f1+f2の成分を検出する顕微鏡システム。