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1. (WO2018083720) 異常分析方法、プログラムおよびシステム

Pub. No.:    WO/2018/083720    International Application No.:    PCT/JP2016/004819
Publication Date: Sat May 12 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Tue Nov 08 00:59:59 CET 2016
IPC: G05B 23/02
Applicants: NEC CORPORATION
日本電気株式会社
Inventors: FUJITSUKA, Masashi
藤塚 理史
Title: 異常分析方法、プログラムおよびシステム
Abstract:
本発明は、導入の手間が小さく、かつ異常の真の要因の特定を容易にする異常分析方法、プログラムおよびシステムを提供する。本発明の一実施形態に係る異常分析システム(100)は、設備に設けられる複数のセンサによって測定された測定値に基づいて、測定値に影響を与える主要因であるセンサを抽出する主要因抽出部(120)と、主要因であるセンサによって測定された測定値に加えて、測定値に影響を与える副要因を示す値を用いて、設備の正常な状態を示すモデルを生成する副要因補正部(130)と、を備える。副要因を示す値は、センサとは異なる手段によって測定される。