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1. (WO2018083720) 異常分析方法、プログラムおよびシステム
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2018/083720 国際出願番号: PCT/JP2016/004819
国際公開日: 11.05.2018 国際出願日: 07.11.2016
IPC:
G05B 23/02 (2006.01)
出願人: NEC CORPORATION[JP/JP]; 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001, JP
発明者: FUJITSUKA, Masashi; JP
代理人: OKABE, Yuzuru; JP
USUI, Shinichi; JP
OCHI, Takao; JP
YOSHIZAWA, Hiroshi; JP
OKABE, Yoh; JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) ABNORMALITY ANALYSIS METHOD, PROGRAM, AND SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ, PROGRAMME ET SYSTÈME D'ANALYSE D'ANOMALIE
(JA) 異常分析方法、プログラムおよびシステム
要約: front page image
(EN) The present invention provides an abnormality analysis method, program, and system that requires little effort for introduction, and that makes it easy to identify the true factor of an abnormality. An abnormality analysis system (100) of an embodiment of the present invention is provided with: a primary factor extraction unit (120) that, based on measured values measured using a plurality of sensors provided in equipment, does extraction of the sensors which are a primary factor affecting the measured values; and a secondary factor correction unit (130) that, in addition to the measured values measured using the sensors which are the primary factor, uses a value indicating a secondary factor affecting the measured values, to generate a model indicating the normal condition of the equipment. The value indicating the secondary factor is measured using a different means from that of the sensors.
(FR) La présente invention a trait à un procédé, un programme et un système d'analyse d'anomalie qui nécessitent peu d'effort pour être mis en place, et qui permettent d'identifier facilement le véritable facteur d'une anomalie. Un système d'analyse d'anomalie (100) d'un mode de réalisation de la présente invention comprend : une unité d'extraction de facteur primaire (120) qui, sur la base de valeurs mesurées mesurées à l'aide d'une pluralité de capteurs situés dans un équipement, réalise l'extraction des capteurs qui sont un facteur primaire influant sur les valeurs mesurées ; et une unité de correction de facteur secondaire (130) qui, en plus des valeurs mesurées mesurées à l'aide des capteurs qui sont le facteur primaire, utilise une valeur indiquant un facteur secondaire influant sur les valeurs mesurées, pour générer un modèle indiquant l'état normal de l'équipement. La valeur indiquant le facteur secondaire est mesurée à l'aide d'un moyen différent de celui des capteurs.
(JA) 本発明は、導入の手間が小さく、かつ異常の真の要因の特定を容易にする異常分析方法、プログラムおよびシステムを提供する。本発明の一実施形態に係る異常分析システム(100)は、設備に設けられる複数のセンサによって測定された測定値に基づいて、測定値に影響を与える主要因であるセンサを抽出する主要因抽出部(120)と、主要因であるセンサによって測定された測定値に加えて、測定値に影響を与える副要因を示す値を用いて、設備の正常な状態を示すモデルを生成する副要因補正部(130)と、を備える。副要因を示す値は、センサとは異なる手段によって測定される。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)