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1. (WO2018079657) 太陽電池の検査方法および検査装置、太陽電池の製造方法および太陽電池モジュールの製造方法、ならびに検査用プログラムおよび記憶媒体
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2018/079657    国際出願番号:    PCT/JP2017/038710
国際公開日: 03.05.2018 国際出願日: 26.10.2017
IPC:
H02S 50/15 (2014.01), G01N 21/95 (2006.01)
出願人: KANEKA CORPORATION [JP/JP]; 3-18, Nakanoshima 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5308288 (JP)
発明者: FUKUDA, Masanori; (JP)
代理人: SHINTAKU, Masato; (JP).
YOSHIMOTO, Tsutomu; (JP)
優先権情報:
2016-209960 26.10.2016 JP
発明の名称: (EN) SOLAR CELL INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING SOLAR CELL, METHOD FOR MANUFACTURING SOLAR CELL MODULE, INSPECTION PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM
(FR) PROCÉDÉ D'INSPECTION DE CELLULE SOLAIRE ET DISPOSITIF D'INSPECTION, PROCÉDÉ DE FABRICATION DE CELLULE SOLAIRE, PROCÉDÉ DE FABRICATION DE MODULE DE CELLULE SOLAIRE, PROGRAMME D'INSPECTION ET SUPPORT DE STOCKAGE
(JA) 太陽電池の検査方法および検査装置、太陽電池の製造方法および太陽電池モジュールの製造方法、ならびに検査用プログラムおよび記憶媒体
要約: front page image
(EN)The present invention pertains to an inspection method of a solar cell provided with: a photoelectric conversion unit (1) having a first conductive-type semiconductor and a second conductive-type semiconductor; a first collector electrode on the first conductive-type semiconductor; and a second collector electrode on the second conductive-type semiconductor, wherein the first collector electrode and the second collector electrode irradiate light on the photoelectric conversion unit in a state electrically connected with conductive members (21, 22, 25) interposed, and implement photoluminescence measurement. On the basis of the contrast of the obtained photoluminescent image, the disconnection defect location of the collector electrode is identified.
(FR)La présente invention concerne un procédé d'inspection d'une cellule solaire comprenant : une unité de conversion photoélectrique (1) ayant un semi-conducteur de premier type de conduction et un semi-conducteur de second type de conduction ; une première électrode de collecteur sur le semi-conducteur de premier type de conduction ; et une seconde électrode de collecteur sur le semi-conducteur de second type de conduction, la première électrode de collecteur et la seconde électrode de collecteur irradiant de la lumière sur l'unité de conversion photoélectrique dans un état connecté électriquement à des éléments conducteurs (21, 22, 25) intercalés, et mettant en œuvre une mesure de photoluminescence. Sur la base du contraste de l'image à photoluminescence obtenue, l'emplacement de défaut de déconnexion de l'électrode de collecteur est identifié.
(JA)本発明は、第一導電型半導体および第二導電型半導体を有する光電変換部(1)と、第一導電型半導体上の第一集電極と、第二導電型半導体上の第二集電極とを備える太陽電池の検査方法に関し、第一集電極と第二集電極とが導通部材(21,22,25)を介して電気的に接続された状態で、光電変換部に光を照射して、フォトルミネッセンス測定を実施する。得られたフォトルミネッセンス像の明暗に基づいて、集電極の断線不良箇所が特定される。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)