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1. (WO2018074085) 測距装置、および、測距装置の制御方法

Pub. No.:    WO/2018/074085    International Application No.:    PCT/JP2017/031939
Publication Date: Fri Apr 27 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Wed Sep 06 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01S 17/89
G01S 17/87
H04N 5/225
Applicants: SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION
ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社
Inventors: OHKI, Mitsuharu
大木 光晴
Title: 測距装置、および、測距装置の制御方法
Abstract:
光の位相差から距離を測定する装置において、アップサンプリングを正確に行う。 連続光受光部には、連続光の受光量を示す連続光受光データを生成する複数の連続光画素が各々に設けられた所定数の画素ブロックが配置される。間欠光受光部には、間欠光の受光量を示す間欠光受光データを生成する間欠光画素を前記所定数の画素ブロックのそれぞれに対応付けて設けられる。測距部は、画素ブロックごとの前記連続光受光データの平均値と連続光受光データと間欠光受光データとを用いて複数の連続光画素のそれぞれについて距離データを高解像度距離データとして生成する。