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1. (WO2018070210) 3次元測定装置および3次元測定方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2018/070210    国際出願番号:    PCT/JP2017/034218
国際公開日: 19.04.2018 国際出願日: 22.09.2017
IPC:
G01B 11/25 (2006.01), G06T 7/00 (2017.01), G06T 7/60 (2017.01)
出願人: OMRON CORPORATION [JP/JP]; 801, Minamifudodo-cho, Horikawahigashiiru, Shiokoji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6008530 (JP)
発明者: FU, Xingdou; (JP).
SUWA, Masaki; (JP).
HASEGAWA, Yuki; (JP)
代理人: SEKINE, Takehiko; (JP).
NAKAMURA, Go; (JP).
IMABORI, Katsuhiko; (JP).
WAKUTA Jun-ichi; (JP).
YAZAWA, Hironobu; (JP)
優先権情報:
2016-202682 14.10.2016 JP
発明の名称: (EN) THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE, ET PROCÉDÉ DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE
(JA) 3次元測定装置および3次元測定方法
要約: front page image
(EN)This three-dimensional measurement device is provided with: a projection means for projecting, onto an object to be measured, pattern light including a two-dimensional encoding pattern in which a plurality of types of words that each have different two-dimensional structures and can be distinguished from each other are arranged two-dimensionally; an imaging means for capturing an image of the object to be measured having the pattern light projected thereon; and a calculation means for calculating the three-dimensional positions of target pixels in the image from the image captured by the imaging means. The three-dimensional measurement device is characterized in that the two-dimensional encoding pattern is two-fold symmetrical. The two-dimensional encoding pattern is a pattern in which a predetermined word is repeated in each row in the row direction, and a word in a k-th row from one end is preferably the same as the result of rotating a word in a k-th row from the other end by 180°. In addition, the projection means preferably generates pattern light using a diffractive optical element.
(FR)L'invention concerne un dispositif de mesure tridimensionsionnelle qui est pourvu de : un moyen de projection pour projeter, sur un objet à mesurer, une lumière à motif comprenant un motif de codage bidimensionnel dans lequel de multiples types de mots qui ont chacun des structures bidimensionnelles différentes et peuvent être distingués les uns des autres sont agencés de façon bidimensionnelle ; un moyen d'imagerie pour capturer une image de l'objet à mesurer ayant la lumière à motif projetée sur celui-ci ; et un moyen de calcul pour calculer les positions tridimensionnelles de pixels cibles dans l'image à partir de l'image capturée par le moyen d'imagerie. Le dispositif de mesure tridimensionsionnelle est caractérisé en ce que le motif de codage bidimensionnel est doublement symétrique. Le motif de codage bidimensionnel est un motif dans lequel un mot prédéfini est répété dans chaque rangée dans la direction de rangée, et un mot dans une k-ième rangée à partir d'une extrémité est de préférence le même que le résultat de la rotation d'un mot dans une k-ième rangée à partir de l'autre extrémité à raison de 180°. De plus, le moyen de projection génère de préférence une lumière à motif à l'aide d'un élément optique diffractif.
(JA)3次元測定装置は、それぞれが異なる2次元構造を有し互いに区別可能な複数の種類のワードが2次元に配置された2次元符号化パターンを有するパターン光を前記測定対象物に投影する投影手段と、前記パターン光が投影された前記測定対象物を撮像する撮像手段と、前記撮像手段によって撮像された画像から、当該画像の対象画素の3次元位置を算出する算出手段と、を備え、前記2次元符号化パターンは、2回対称である、ことを特徴とする。2次元符号化パターンは、列ごとに列方向に所定のワードが繰り返されたパターンであり、一端からk列目のワードは、他端からk列目のワードを180°回転させたものと等しいことが好ましい。また、投影手段は、回折光学素子によってパターン光を生成することが好ましい。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)