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1. (WO2018070210) 3次元測定装置および3次元測定方法

Pub. No.:    WO/2018/070210    International Application No.:    PCT/JP2017/034218
Publication Date: Fri Apr 20 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Sat Sep 23 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01B 11/25
G06T 7/00
G06T 7/60
Applicants: OMRON CORPORATION
オムロン株式会社
Inventors: FU, Xingdou
付 星斗
SUWA, Masaki
諏訪 正樹
HASEGAWA, Yuki
長谷川 友紀
Title: 3次元測定装置および3次元測定方法
Abstract:
3次元測定装置は、それぞれが異なる2次元構造を有し互いに区別可能な複数の種類のワードが2次元に配置された2次元符号化パターンを有するパターン光を前記測定対象物に投影する投影手段と、前記パターン光が投影された前記測定対象物を撮像する撮像手段と、前記撮像手段によって撮像された画像から、当該画像の対象画素の3次元位置を算出する算出手段と、を備え、前記2次元符号化パターンは、2回対称である、ことを特徴とする。2次元符号化パターンは、列ごとに列方向に所定のワードが繰り返されたパターンであり、一端からk列目のワードは、他端からk列目のワードを180°回転させたものと等しいことが好ましい。また、投影手段は、回折光学素子によってパターン光を生成することが好ましい。