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1. (WO2018066597) サンプルの分析方法、及びサンプル分析用デバイス

Pub. No.:    WO/2018/066597    International Application No.:    PCT/JP2017/036124
Publication Date: Fri Apr 13 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Thu Oct 05 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01N 27/00
G01N 37/00
Applicants: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION NAGOYA UNIVERSITY
国立大学法人名古屋大学
OSAKA UNIVERSITY
国立大学法人大阪大学
KYUSHU UNIVERSITY, NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION
国立大学法人九州大学
TOHOKU UNIVERSITY
国立大学法人東北大学
Inventors: YASAKI Hirotoshi
矢崎 啓寿
YASUI Takao
安井 隆雄
KAJI Noritada
加地 範匡
BABA Yoshinobu
馬場 嘉信
KAWAI Tomoji
川合 知二
KAWANO Satoyuki
川野 聡恭
DOI Kentaro
土井 謙太郎
YANAGIDA Takeshi
柳田 剛
FUKUYAMA Mao
福山 真央
Title: サンプルの分析方法、及びサンプル分析用デバイス
Abstract:
サンプルから漏出したイオン量を併せて解析できるサンプルの分析方法及びサンプル分析用デバイスを提供することを課題とする。 サンプル分析用デバイスを用いたサンプルの分析方法であって、 前記サンプル分析用デバイスは、 前記サンプルが移動する移動部、 該移動部の途中に形成され、前記サンプルが前記移動部を通過する際のイオン電流の値を測定する測定部、 を少なくとも含み、 前記分析方法は、 前記サンプルが前記移動部を通過する際のイオン電流の値を測定する測定工程、 前記測定工程で測定したイオン電流の値から、イオン量の経時変化を解析する解析工程、 を少なくとも含み、 前記イオン量が、前記サンプルが前記移動部を移動する際に、前記サンプルから漏出したイオン量を含む、分析方法、 により課題を解決できる。