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1. (WO2018066597) サンプルの分析方法、及びサンプル分析用デバイス
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2018/066597    国際出願番号:    PCT/JP2017/036124
国際公開日: 12.04.2018 国際出願日: 04.10.2017
予備審査請求日:    28.02.2018    
IPC:
G01N 27/00 (2006.01), G01N 37/00 (2006.01)
出願人: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION NAGOYA UNIVERSITY [JP/JP]; 1, Furo-cho, Chikusa-ku, Nagoya-shi, Aichi 4648601 (JP).
OSAKA UNIVERSITY [JP/JP]; 1-1, Yamadaoka, Suita-shi, Osaka 5650871 (JP).
KYUSHU UNIVERSITY, NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION [JP/JP]; 6-10-1, Hakozaki, Higashi-ku, Fukuoka-shi, Fukuoka 8128581 (JP).
TOHOKU UNIVERSITY [JP/JP]; 2-1-1, Katahira, Aoba-ku, Sendai-shi, Miyagi 9808577 (JP)
発明者: YASAKI Hirotoshi; (JP).
YASUI Takao; (JP).
KAJI Noritada; (JP).
BABA Yoshinobu; (JP).
KAWAI Tomoji; (JP).
KAWANO Satoyuki; (JP).
DOI Kentaro; (JP).
YANAGIDA Takeshi; (JP).
FUKUYAMA Mao; (JP)
代理人: MATSUMOTO Seiji; (JP)
優先権情報:
2016-199331 07.10.2016 JP
発明の名称: (EN) SAMPLE ANALYSIS METHOD, AND SAMPLE ANALYSIS DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D’ANALYSE D’ÉCHANTILLON ET DISPOSITIF D’ANALYSE D’ÉCHANTILLON
(JA) サンプルの分析方法、及びサンプル分析用デバイス
要約: front page image
(EN)The present invention addresses the problem of providing a sample analysis method and a sample analysis device capable of additionally analyzing an amount of ions that have leaked from a sample. This problem can be resolved by means of a sample analysis method employing a sample analysis device, wherein the sample analysis device includes at least a movement portion along which the sample moves, and a measuring portion which is formed midway along the movement portion, and which measures the value of an ionic current when the sample passes through the movement portion, and the analysis method includes at least a measuring step of measuring the value of the ionic current when the sample passes through the movement portion, and an analysis step of analyzing a change over time in the amount of ions, from the value of the ionic current measured in the measuring step, and wherein the amount of ions includes an amount of ions that leaked from the sample when the sample moved along the movement portion.
(FR)La présente invention aborde le problème de la fourniture d’un procédé d’analyse d’échantillon et d’un dispositif d’analyse d’échantillon permettant d’analyser en outre une quantité d’ions qui ont fui depuis un échantillon. Ce problème peut être résolu au moyen d’un procédé d’analyse d’échantillon utilisant un dispositif d’analyse d’échantillon, le dispositif d’analyse d’échantillon comprenant au moins une partie de déplacement le long de laquelle l’échantillon se déplace, et une partie de mesure qui est formée à mi-chemin le long de la partie de déplacement, et qui mesure la valeur d’un courant ionique lorsque l’échantillon traverse la partie de déplacement, et le procédé d’analyse comprend au moins une étape de mesure pour mesurer la valeur du courant ionique lorsque l’échantillon traverse la partie de déplacement, et une étape d’analyse pour analyser un changement au cours du temps de la quantité d’ions, à partir de la valeur du courant ionique mesurée dans l’étape de mesure, et la quantité d’ions comprenant une quantité d’ions qui ont fui depuis l’échantillon lorsque l’échantillon s’est déplacé le long de la partie de déplacement.
(JA)サンプルから漏出したイオン量を併せて解析できるサンプルの分析方法及びサンプル分析用デバイスを提供することを課題とする。 サンプル分析用デバイスを用いたサンプルの分析方法であって、 前記サンプル分析用デバイスは、 前記サンプルが移動する移動部、 該移動部の途中に形成され、前記サンプルが前記移動部を通過する際のイオン電流の値を測定する測定部、 を少なくとも含み、 前記分析方法は、 前記サンプルが前記移動部を通過する際のイオン電流の値を測定する測定工程、 前記測定工程で測定したイオン電流の値から、イオン量の経時変化を解析する解析工程、 を少なくとも含み、 前記イオン量が、前記サンプルが前記移動部を移動する際に、前記サンプルから漏出したイオン量を含む、分析方法、 により課題を解決できる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)