国際・国内特許データベース検索

1. (WO2018066526) 光学特性測定装置の診断支援装置、及び、光学特性測定装置の診断支援方法

Pub. No.:    WO/2018/066526    International Application No.:    PCT/JP2017/035867
Publication Date: Fri Apr 13 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Tue Oct 03 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01N 21/01
G01J 3/50
G01N 21/27
G01N 21/57
G01J 3/02
Applicants: KONICA MINOLTA, INC.
コニカミノルタ株式会社
Inventors: DEISHI, Satoshi
出石 聡史
MATSUMOTO, Takuya
松本 卓也
CHONO, Hironori
蝶野 尋紀
Title: 光学特性測定装置の診断支援装置、及び、光学特性測定装置の診断支援方法
Abstract:
光学特性測定装置の診断支援装置は、光沢を測定する機能を有する光学特性測定装置の診断を支援する装置であって、表示制御部を有する。前記表示制御部は、前記光学特性測定装置によって、過去に測定された基準板の光沢度を表す指標を第1の指標とし、今回の診断で前記光学特性測定装置によって測定された前記基準板の前記光沢度を表す前記指標を第2の指標とし、前記第2の指標を表示部に表示させるとき、前記第1の指標を前記表示部に表示させる。