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1. (WO2018066524) 光学特性測定装置の診断支援装置、及び、光学特性測定装置の診断支援方法

Pub. No.:    WO/2018/066524    International Application No.:    PCT/JP2017/035860
Publication Date: Fri Apr 13 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Tue Oct 03 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01J 3/02
G01J 3/50
G06Q 10/00
Applicants: KONICA MINOLTA, INC.
コニカミノルタ株式会社
Inventors: DEISHI, Satoshi
出石 聡史
MATSUMOTO, Takuya
松本 卓也
CHONO, Hironori
蝶野 尋紀
Title: 光学特性測定装置の診断支援装置、及び、光学特性測定装置の診断支援方法
Abstract:
診断支援装置は、光学特性測定装置の設定記憶部に記憶された設定の内容に基づいて動作する光学特性測定装置の診断を支援し、第1の記憶部と、第2の記憶部と、処理部と、第1の命令部と、診断部と、第2の命令部と、を有する。第1の記憶部は、診断時の設定の内容を示す第1の設定情報を予め記憶する。処理部は、設定記憶部に予め記憶されており、使用時の設定の内容を示す第2の設定情報を、設定記憶部から取得し、第2の記憶部に記憶させる処理をする。第1の命令部は、第1の記憶部に記憶されている第1の設定情報を設定記憶部に記憶させる命令をする。診断部は、設定記憶部に記憶されている第1の設定情報が示す設定の内容に基づいて動作する光学特性測定装置が測定した値を示す測定結果を取得する。第2の命令部は、測定結果が取得された後、第2の記憶部に記憶されている第2の設定情報を設定記憶部に記憶させる命令をする。