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1. (WO2018066246) 半導体回路、半導体回路の制御方法、および電子機器
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国際公開番号: WO/2018/066246 国際出願番号: PCT/JP2017/030087
国際公開日: 12.04.2018 国際出願日: 23.08.2017
IPC:
G06F 11/14 (2006.01) ,G01R 31/28 (2006.01) ,H01L 21/822 (2006.01) ,H01L 27/04 (2006.01)
G 物理学
06
計算;計数
F
電気的デジタルデータ処理
11
エラー検出;エラー訂正;監視
07
故障の発生への応答,例.耐故障性
14
演算に冗長性を持たせることによるデータのエラー検出または訂正,例.同じ結果になる別の演算式を用いることによるもの
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28
電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
21
半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置
70
1つの共通基板内または上に形成された複数の固体構成部品または集積回路からなる装置またはその特定部品の製造または処理;集積回路装置またはその特定部品の製造
77
1つの共通基板内または上に形成される複数の固体構成部品または集積回路からなる装置の製造または処理
78
複数の別個の装置に基板を分割することによるもの
82
それぞれが複数の構成部品からなる装置,例.集積回路の製造
822
基板がシリコン技術を用いる半導体であるもの
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
27
1つの共通基板内または上に形成された複数の半導体構成部品または他の固体構成部品からなる装置
02
整流,発振,増幅またはスイッチングに特に適用される半導体構成部品を含むものであり,少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有するもの;少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有する集積化された受動回路素子を含むもの
04
基板が半導体本体であるもの
出願人:
ソニー株式会社 SONY CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区港南1丁目7番1号 1-7-1, Konan, Minato-ku, Tokyo 1080075, JP
発明者:
平賀 啓三 HIRAGA, Keizo; JP
代理人:
特許業務法人つばさ国際特許事務所 TSUBASA PATENT PROFESSIONAL CORPORATION; 東京都新宿区新宿1丁目15番9号さわだビル3階 3F, Sawada Building, 15-9, Shinjuku 1-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600022, JP
優先権情報:
2016-19575703.10.2016JP
発明の名称: (EN) SEMICONDUCTOR CIRCUIT, METHOD FOR CONTROLLING SEMICONDUCTOR CIRCUIT, AND ELECTRONIC APPARATUS
(FR) CIRCUIT À SEMI-CONDUCTEURS, PROCÉDÉ DE COMMANDE DE CIRCUIT À SEMI-CONDUCTEURS ET APPAREIL ÉLECTRONIQUE
(JA) 半導体回路、半導体回路の制御方法、および電子機器
要約:
(EN) Disclosed is a semiconductor circuit that is provided with a sequential circuit unit, which has a plurality of logical circuit units respectively including flip-flops and nonvolatile storage elements, and which performs store operations wherein, in a first period, the storage elements in the logical circuit units respectively store voltage states of the logical circuit units, and shift operations wherein the flip-flops in the logical circuit units respectively operate as shift registers. The semiconductor circuit is also provided with first memory that stores, in the first period, first data outputted from the shift registers by means of the shift operations, or second data corresponding to the first data.
(FR) L'invention concerne un circuit à semi-conducteurs qui est pourvu d'une unité de circuit séquentiel, qui a une pluralité d'unités de circuit logique comprenant respectivement des circuits bistables et des éléments de stockage non volatils et qui effectue des opérations de stockage, dans une première période, les éléments de stockage dans les unités de circuit logique stockant respectivement des états de tension des unités de circuit logique, et des opérations de décalage dans lesquelles les bascules à déclenchement dans les unités de circuit logique fonctionnent respectivement en tant que registres à décalage. Le circuit à semi-conducteurs est également pourvu d'une première mémoire qui stocke, dans la première période, des premières données délivrées par les registres à décalage au moyen des opérations de décalage, ou des secondes données correspondant aux premières données.
(JA) 本開示の半導体回路は、それぞれがフリップフロップおよび不揮発性の記憶素子を含む複数の論理回路部を有し、第1の期間において、複数の論理回路部における記憶素子が複数の論理回路部における電圧状態をそれぞれ記憶するストア動作と、複数の論理回路部におけるフリップフロップがシフトレジスタとして動作するシフト動作とを行う順序回路部と、第1の期間において、シフト動作によりシフトレジスタから出力された第1のデータまたは第1のデータに対応する第2のデータを記憶する第1のメモリとを備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)