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1. (WO2018063418) COMPACT TESTING SYSTEM
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

国際公開番号: WO/2018/063418 国際出願番号: PCT/US2016/055780
国際公開日: 05.04.2018 国際出願日: 06.10.2016
IPC:
G01R 31/3177 (2006.01) ,G06F 9/00 (2006.01) ,G06F 11/26 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28
電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
317
デジタル回路の試験
3177
論理回路の試験,例.ロジック・アナライザによるもの
G 物理学
06
計算;計数
F
電気的デジタルデータ処理
9
プログラム制御のための装置,例.制御装置
G 物理学
06
計算;計数
F
電気的デジタルデータ処理
11
エラー検出;エラー訂正;監視
22
待機作動中または遊休時間中の検査によるコンピュータ故障箇所の検出または故障位置の指示,例.始動試験
26
機能試験
出願人:
XCERRA CORPORATION [US/US]; 825 University Avenue Norwood, Massachusetts 02062, US
発明者:
BROWN, Benjamin; US
POFFENBERGER, Russel; US
代理人:
COLANDREO, Brian J.; US
ABRAMSON, Michael T.; US
PLACKER, Jeffrey T.; US
WHITTENBERGER, Mark H.; US
優先権情報:
15/281,96630.09.2016US
発明の名称: (EN) COMPACT TESTING SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE TEST COMPACT
要約:
(EN) An automated test platform includes a CPU subsystem housed in an enclosure and configured to execute an automated test process. A test head is housed in the enclosure and is configured to apply one or more test signals to a device under test. A power supply is housed in the enclosure and is configured to provide electrical power to the CPU subsystem and the test head.
(FR) L’invention concerne une plate-forme de test automatisée comprenant un sous-système de CPU logé dans une enceinte et conçu pour exécuter un processus de test automatisé. Une tête de test est logée dans l'enceinte et est conçue pour appliquer un ou plusieurs signaux de test à un dispositif soumis au test. Une alimentation électrique est logée dans l'enceinte et est conçue pour fournir de l'énergie électrique au sous-système de CPU et à la tête de test.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 英語 (EN)
国際出願言語: 英語 (EN)