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1. (WO2018061608) 波長分散型蛍光X線分析装置およびそれを用いる蛍光X線分析方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2018/061608    国際出願番号:    PCT/JP2017/031495
国際公開日: 05.04.2018 国際出願日: 31.08.2017
IPC:
G01N 23/223 (2006.01), G01N 23/207 (2006.01)
出願人: RIGAKU CORPORATION [JP/JP]; 9-12, Matsubara-cho 3-chome, Akishima-shi, Tokyo 1968666 (JP)
発明者: KATO, Shuichi; (JP).
KATAOKA, Yoshiyuki; (JP).
FUJIMURA, Hajime; (JP).
YAMADA, Takashi; (JP)
代理人: SUGIMOTO, Shuji; (JP).
NODA, Masashi; (JP).
TSUTSUMI, Takeo; (JP)
優先権情報:
2016-194355 30.09.2016 JP
発明の名称: (EN) WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD USING THE SAME
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE DE FLUORESCENCE X À DISPERSION EN LONGUEUR D'ONDE ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE FLUORESCENCE X L'UTILISANT
(JA) 波長分散型蛍光X線分析装置およびそれを用いる蛍光X線分析方法
要約: front page image
(EN)This wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometer is provided with: a position-sensitive detector (10) that detects each of the intensities of a secondary X-ray (41) at different spectral angles using a corresponding detection element (7); a measurement spectrum display means (14) that displays, on a display (15), the relation between the position of the detection element (7) in a direction of arrangement and the detection strength of the detection element (7) as a measurement spectrum; a detection area setting means (16) for setting a peak area and a background area; and a quantification means (17) that uses the peak intensity in the peak area, the background intensity in the background area, and a background correction coefficient as a basis to calculate the intensity of X-ray fluorescence to be measured as a net intensity and perform quantitative analysis.
(FR)Ce dispositif d'analyse de fluorescence X à dispersion en longueur d'onde comporte : un détecteur sensible à la position (10) qui détecte chacune des intensités d'un rayon X secondaire (41) sous différents angles spectraux à l'aide d'un élément de détection correspondant (7); un moyen d'affichage de spectre de mesure (14) qui affiche, sur un dispositif d'affichage (15), la relation entre la position de l'élément de détection (7) dans une direction d'agencement et l'intensité de détection de l'élément de détection (7) sous la forme d'un spectre de mesure; un moyen de paramétrage de la zone de détection (16) pour le paramétrage d'une zone de crête et d'une zone de référence; et un moyen de quantification (17) qui utilise l'intensité de crête dans la zone de crête, l'intensité de référence dans la zone de référence, et un coefficient de correction de référence en tant que base pour calculer l'intensité de fluorescence X à mesurer en tant qu'intensité nette et pour effectuer une analyse quantitative.
(JA)本発明の波長分散型蛍光X線分析装置は、相異なる分光角度の2次X線(41)の各強度を対応する検出素子(7)で検出する位置敏感型検出器(10)と、検出素子(7)の配列方向位置と検出素子(7)の検出強度との関係を測定スペクトルとして表示器(15)に表示する測定スペクトル表示手段(14)と、ピーク領域およびバックグラウンド領域が設定される検出領域設定手段(16)と、ピーク領域におけるピーク強度、バックグラウンド領域におけるバックグラウンド強度およびバックグラウンド補正係数に基づいて、ネット強度として測定対象の蛍光X線の強度を算出して定量分析を行う定量手段(17)とを備える。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)