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1. (WO2018061287) 電気機器および電気機器の診断装置

Pub. No.:    WO/2018/061287    International Application No.:    PCT/JP2017/017712
Publication Date: Fri Apr 06 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Thu May 11 01:59:59 CEST 2017
IPC: H02M 7/48
G01K 7/00
G01R 31/26
Applicants: HITACHI, LTD.
株式会社日立製作所
Inventors: OGAWA Takashi
小川 貴史
SAKURAI Naoki
櫻井 直樹
Title: 電気機器および電気機器の診断装置
Abstract:
簡素な構成で半導体の素子温度を推定できるようにする。そのため、一または複数の半導体素子(104,106)と、半導体素子(104,106)のオン状態またはオフ状態を指令する制御信号(Va)を受信して、制御信号(Va)に基づいて半導体素子(104,106)を駆動する駆動回路(107,108)と、半導体素子(104,106)に出力電力を与える直流電圧電源(150)と、直流電圧電源の出力に重畳された、半導体素子で発生したノイズ成分(In)を検出する検出器(114)と、検出器(114)と、制御信号(Va)がオフ状態を指令したタイミングと、ノイズ成分(In)の発生タイミングとの差である偏差時間を計測する偏差時間計測部(111)と、を設けた。