国際・国内特許データベース検索

1. (WO2018056180) 自動分析装置

Pub. No.:    WO/2018/056180    International Application No.:    PCT/JP2017/033331
Publication Date: Fri Mar 30 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Fri Sep 15 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01N 35/00
G01N 35/04
G01N 35/10
Applicants: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION
株式会社日立ハイテクノロジーズ
Inventors: YASUI Akihiro
安居 晃啓
YOSHIDA Gorou
吉田 悟郎
MURAMATSU Yoshiki
村松 由規
YAMAZAKI Isao
山崎 功夫
Title: 自動分析装置
Abstract:
自動分析装置100における各種パラメータであって、自動分析装置100が使用される標高毎に最適化されたパラメータを各標高と対応させて記憶した記憶部21bと、自動分析装置100の設置された標高の情報を取得する入力部21dと、入力部21dで取得された標高に基づいて、記憶部21bに記憶されたパラメータを読み出して自動分析装置100に設定する制御部21aとを備える。これにより、装置の使用環境に対応した各種パラメータの調整を容易に行うことができる。