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1. (WO2018055961) プローブピンおよび検査ユニット
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

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国際公開番号:    WO/2018/055961    国際出願番号:    PCT/JP2017/029656
国際公開日: 29.03.2018 国際出願日: 18.08.2017
IPC:
G01R 1/067 (2006.01), G01R 1/073 (2006.01), H01R 13/24 (2006.01), H01R 33/76 (2006.01)
出願人: OMRON CORPORATION [JP/JP]; 801, Minamifudodo-cho, Horikawahigashiiru, Shiokoji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6008530 (JP)
発明者: TERANISHI, Hirotada; (JP).
SAKAI, Takahiro; (JP)
代理人: SAMEJIMA, Mutsumi; (JP).
WADA, Mitsuo; (JP)
優先権情報:
2016-184838 21.09.2016 JP
発明の名称: (EN) PROBE PIN AND INSPECTION UNIT
(FR) BROCHE DE SONDE ET UNITÉ D'INSPECTION
(JA) プローブピンおよび検査ユニット
要約: front page image
(EN)A probe pin includes: a plate-shaped movable pin (20) having an elastic portion (21) that elongates and contracts along a longitudinal direction, and a first contact portion (22) and a second contact portion (23) provided at both end portions of the elastic portion (21) in the longitudinal direction, respectively; and a conduction path forming member (30) disposed so as to overlap with the movable pin (20) in a thickness direction. The conduction path forming member (30) has, at both end portions in the longitudinal direction, a first contact surface (36) and a second contact surface (37) that contact with the first contact portion (22) and the second contact portion (23), respectively. The movable pin (20) and the conduction path forming member (30) are disposed so as to be relatively movable along the longitudinal direction while maintaining the contact between the first contact portion (22) and the first contact surface (36) and the contact between the second contact portion (23) and the second contact surface (37).
(FR)La présente invention concerne une broche de sonde qui comprend : une broche mobile en forme de plaque (20) qui possède une partie élastique (21) qui s'allonge et se contracte le long d'une direction longitudinale, et une première partie de contact (22) et une seconde partie de contact (23) prévues aux deux parties d'extrémité de la partie élastique (21) dans la direction longitudinale, respectivement ; et un élément de formation de trajet de conduction (30) disposé de manière à chevaucher la broche mobile (20) dans le sens de l'épaisseur. L'élément de formation de trajet de conduction (30) possède, aux deux parties d'extrémité dans la direction longitudinale, une première surface de contact (36) et une seconde surface de contact (37) qui sont en contact avec la première partie de contact (22) et la seconde partie de contact (23), respectivement. La broche mobile (20) et l'élément de formation de trajet de conduction (30) sont disposés de manière à être relativement mobiles le long de la direction longitudinale tout en maintenant le contact entre la première partie de contact (22) et la première surface de contact (36) et le contact entre la seconde partie de contact (23) et la seconde surface de contact (37).
(JA)プローブピンが、長手方向に沿って伸縮する弾性部(21)と、弾性部(21)の長手方向の両端部にそれぞれ設けられた第1接点部(22)および第2接点部(23)と、を有する板状の可動ピン(20)と、可動ピン(20)の板厚方向に重なるように配置されている導通経路形成部材(30)と、を備える。導通経路形成部材(30)が、長手方向の両端部の各々に、第1接点部(22)および第2接点部(23)にそれぞれ接触する第1接触面(36)および第2接触面(37)を有し、可動ピン(20)および導通経路形成部材(30)が、第1接点部(22)と第1接触面(36)との接触および第2接点部(23)と第2接触面(37)との接触をそれぞれ維持しつつ、長手方向に沿って相対的に移動可能に配置されている。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)