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1. (WO2018055885) 検体検査自動化システム
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国際公開番号: WO/2018/055885 国際出願番号: PCT/JP2017/025944
国際公開日: 29.03.2018 国際出願日: 18.07.2017
IPC:
G01N 35/04 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
35
グループ1/00から33/00のいずれか1つに分類される方法または材料に限定されない自動分析;そのための材料の取扱い
02
1以上の処理位置または分析位置へコンベア系によって移動させられる多数の試料容器を用いるもの
04
コンベア系の細部
出願人:
株式会社日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
発明者:
山口 茂輝 YAMAGUCHI Shigeki; JP
辻村 直人 TSUJIMURA Naoto; JP
根本 知幸 NEMOTO Tomoyuki; JP
代理人:
特許業務法人開知国際特許事務所 KAICHI IP; 東京都中央区日本橋室町四丁目3番16号 3-16, Nihonbashi-muromachi 4-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030022, JP
優先権情報:
2016-18530623.09.2016JP
発明の名称: (EN) SAMPLE TEST AUTOMATION SYSTEM
(FR) SYSTÈME D’AUTOMATISATION DE TEST D’ÉCHANTILLON
(JA) 検体検査自動化システム
要約:
(EN) The present invention is provided with: an automatic analysis device 200 for performing an analysis process to analyze a specimen that is to be analyzed; a specimen pre-processing module 100 for performing pre-processing to cause the specimen to enter a state in which the analysis process can be performed; a main conveyance line 161 for conveying a specimen container carrier 10 which accommodates the specimen that is to be analyzed and in which at least one specimen container can be mounted; and annular conveyance lines 111, 121, 131, 141, 151, 411 that are disposed adjacent to the main conveyance line 161 and that are moreover disposed so as to be capable of transferring the specimen container carrier 10 to and from the main conveyance line 161, the annular conveyance lines 111, 121, 131, 141, 151, 411 being capable of circulating and conveying the specimen container carrier 10 separately without the use of another conveyance line (e.g., a return line 162). This makes it possible to maintain flexibility in conveyance of specimens while suppressing increases in device surface area.
(FR) La présente invention est pourvue de : un dispositif d’analyse automatique 200 pour exécuter un processus d’analyse pour analyser un échantillon qui doit être analysé ; un module de prétraitement d’échantillon 100 pour effectuer un prétraitement pour amener l’échantillon à entrer dans un état dans lequel le processus d’analyse peut être effectué ; une ligne de transport principale 161 pour transporter un support de récipient d’échantillon 10 qui reçoit l’échantillon qui doit être analysé et dans lequel au moins un récipient d’échantillon peut être monté ; et des lignes de transport annulaires 111, 121, 131, 141, 151, 411 qui sont disposées de façon adjacente à la ligne de transport principale 161 et qui sont en outre disposées de façon à pouvoir transférer le support de récipient d’échantillon 10 vers et depuis la ligne de transport principale 161, les lignes de transport annulaires 111, 121, 131, 141, 151, 411 pouvant faire circuler et transporter le support de récipient d’échantillon 10 séparément, sans l’utilisation d’une autre ligne de transport (par exemple, une ligne de retour 162). Cela permet de maintenir une flexibilité dans le transport d’échantillons tout en supprimant les augmentations de superficie du dispositif.
(JA) 分析対象である検体の分析を行う分析処理を行う自動分析装置200と、検体を分析処理可能な状態にする前処理を行う検体前処理モジュール100と、分析対象である検体を収容した少なくとも1つの検体容器を搭載可能な検体容器キャリア10を搬送する主搬送ライン161と、主搬送ライン161に隣接して配置されるとともに、主搬送ライン161との間で検体容器キャリア10の授受が可能なように設置され、他の搬送ライン(戻りライン162等)を介さずに単独で検体容器キャリア10を循環搬送可能な環状搬送ライン111,121,131,141,151,411とを備える。これにより、設置面積の増加を抑制しつつ検体搬送に係る柔軟性を確保することができる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)