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1. (WO2018055867) X線位相差撮像装置用回折格子、X線位相差撮像装置用X線発生ユニット、X線位相差撮像装置
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国際公開番号: WO/2018/055867 国際出願番号: PCT/JP2017/024109
国際公開日: 29.03.2018 国際出願日: 30.06.2017
IPC:
A61B 6/00 (2006.01) ,A61B 6/06 (2006.01) ,G01N 23/04 (2006.01) ,G01T 7/00 (2006.01)
A 生活必需品
61
医学または獣医学;衛生学
B
診断;手術;個人識別
6
放射線診断用機器,例.放射線治療と結合している装置
A 生活必需品
61
医学または獣医学;衛生学
B
診断;手術;個人識別
6
放射線診断用機器,例.放射線治療と結合している装置
06
隔板
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
02
放射線の材料透過によるもの
04
映像形成
G 物理学
01
測定;試験
T
原子核放射線またはX線の測定
7
放射線測定装置の細部
出願人:
株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
発明者:
土岐 貴弘 DOKI, Takahiro; JP
田邊 晃一 TANABE, Koichi; JP
吉牟田 利典 YOSHIMUTA, Toshinori; JP
木村 健士 KIMURA, Kenji; JP
岸原 弘之 KISHIHARA, Hiroyuki; JP
和田 幸久 WADA, Yukihisa; JP
和泉 拓朗 IZUMI, Takuro; JP
白井 太郎 SHIRAI, Taro; JP
佐野 哲 SANO, Satoshi; JP
堀場 日明 HORIBA, Akira; JP
代理人:
宮園 博一 MIYAZONO, Hirokazu; JP
優先権情報:
2016-18605123.09.2016JP
発明の名称: (EN) DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY PHASE DIFFERENCE IMAGE CAPTURE DEVICE, X-RAY EMISSION UNIT FOR X-RAY PHASE DIFFERENCE IMAGE CAPTURE DEVICE, AND X-RAY PHASE DIFFERENCE IMAGE CAPTURE DEVICE
(FR) RÉSEAU DE DIFFRACTION POUR DISPOSITIF DE CAPTURE D'IMAGE À DIFFÉRENCE DE PHASE DE RAYONS X, UNITÉ D'ÉMISSION DE RAYONS X POUR DISPOSITIF DE CAPTURE D'IMAGE À DIFFÉRENCE DE PHASE DE RAYONS X, ET DISPOSITIF DE CAPTURE D'IMAGE À DIFFÉRENCE DE PHASE DE RAYONS X
(JA) X線位相差撮像装置用回折格子、X線位相差撮像装置用X線発生ユニット、X線位相差撮像装置
要約:
(EN) This x-ray phase difference image capture device diffraction grating (20) comprises a first grating (22), further comprising a plurality of first grating parts (22a) which are formed at a first grating period (Pk), and a second grating (23), further comprising a plurality of second grating parts (23a) which are formed at a second grating period (Pk+1) which differs from the first grating period, said second grating (23) being layered upon the first grating such that spaces between the first grating parts are connected to spaces between the second grating parts.
(FR) La présente invention concerne un réseau de diffraction de dispositif de capture d'image à différence de phase de rayons x (20) comprenant un premier réseau de diffraction (22), comprenant en outre une pluralité de premières parties de réseau (22a) qui sont formées à une première période de réseau (Pk), et un second réseau de diffraction (23), comprenant en outre une pluralité de secondes parties de réseau (23a) qui sont formées à une seconde période de réseau (Pk+1) qui diffère de la première période de réseau, ledit second réseau (23) étant disposé en couches sur le premier réseau de telle sorte que des espaces entre les premières parties de réseau sont connectés à des espaces entre les secondes parties de réseau.
(JA) このX線位相差撮像装置用回折格子(20)は、第1格子周期(Pk)で形成された複数の第1格子部(22a)を含む第1格子(22)と、第1格子周期とは異なる第2格子周期(Pk+1)で形成された複数の第2格子部(23a)を含み、第1格子部間の空間と第2格子部間の空間とがつながるように第1格子に積層される第2格子(23)と、を備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)