このアプリケーションの一部のコンテンツは現時点では利用できません。
このような状況が続く場合は、にお問い合わせくださいフィードバック & お問い合わせ
1. (WO2018052015) システムの分析支援装置、システムの分析支援方法及びプログラム
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2018/052015 国際出願番号: PCT/JP2017/033019
国際公開日: 22.03.2018 国際出願日: 13.09.2017
IPC:
G05B 23/02 (2006.01)
G 物理学
05
制御;調整
B
制御系または調整系一般;このような系の機能要素;このような系または要素の監視または試験装置
23
制御系またはその一部の試験または監視
02
電気式試験または監視
出願人:
日本電気株式会社 NEC CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区芝五丁目7番1号 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001, JP
発明者:
落合 勝博 OCHIAI, Katsuhiro; JP
代理人:
加藤 朝道 KATO, Asamichi; JP
優先権情報:
2016-17928714.09.2016JP
発明の名称: (EN) ANALYSIS SUPPORT DEVICE FOR SYSTEM, ANALYSIS SUPPORT METHOD AND PROGRAM FOR SYSTEM
(FR) DISPOSITIF DE SUPPORT D'ANALYSE POUR SYSTÈME, PROCÉDÉ DE SUPPORT D'ANALYSE ET PROGRAMME POUR SYSTÈME
(JA) システムの分析支援装置、システムの分析支援方法及びプログラム
要約:
(EN) The purpose of the present invention is to make easier and improve the precision of abnormality detection, abnormality monitoring, and abnormality cause identification for a system. An analysis support device for a system includes: a data acquisition unit that acquires time series data measured using a system subject to analysis; an overall abnormality level calculation unit that calculates the transition of the abnormality level representing the degree of abnormality of the overall system subject to analysis using a prediction model generated so that with input of two or more time series data, a value is output representing the relationship of two or more time series data, and the time series data; and a representative index selection unit for which time series data indicating changes similar to the transition of the abnormality level of the overall system subject to analysis is selected from among the time series data and presented.
(FR) L'objet de la présente invention est de faciliter et d'améliorer la précision de détection d'anomalie, le contrôle d'anomalie et l'identification de cause d'anomalie pour un système. Un dispositif de support d'analyse pour un système comprend : une unité d'acquisition de données qui acquiert des données de série chronologique mesurées au moyen d'un système soumis à une analyse ; une unité de calcul de niveau d'anomalie global qui calcule la transition du niveau d'anomalie représentant le degré d'anomalie du système global soumis à une analyse au moyen d'un modèle de prédiction généré de sorte qu'avec une entrée d'au moins deux données de série chronologique, une valeur est fournie, celle-ci représentant la relation entre au moins deux données de série chronologique, et les données de série chronologique ; une unité de sélection d'indice représentatif pour laquelle des données de série chronologique indiquant des changements similaires à la transition du niveau d'anomalie du système global soumis à une analyse sont sélectionnées parmi les données de série chronologique et présentées.
(JA) システムの異常検知、異常監視、異常要因特定の容易化と精度を向上する。システムの分析支援装置は、分析対象のシステムにて測定された時系列データを取得するデータ取得部と、2以上の時系列データを入力として前記2以上の時系列データの関係性を表す値を出力するよう生成された予測モデルと、前記時系列データとを用いて、前記分析対象のシステム全体の異常の度合いを表す異常度の推移を計算する全体異常度計算部と、前記時系列データの中から、前記分析対象のシステム全体の異常度の推移と類似する変化を示す時系列データを選択して提示する代表指標選択部と、を含む。
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)