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1. (WO2018047547) 測定装置、顕微鏡、及び測定方法
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国際公開番号: WO/2018/047547 国際出願番号: PCT/JP2017/028417
国際公開日: 15.03.2018 国際出願日: 04.08.2017
IPC:
G01J 1/02 (2006.01) ,G02B 21/00 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
1
測光,例.写真の露出計
02
細部
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
出願人:
サイエンスエッジ株式会社 SCIENCEEDGE INCORPORATED [JP/JP]; 静岡県浜松市浜北区横須賀1335-1 1335-1, Yokosuka, Hamakita-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4340036, JP
発明者:
太田 泰輔 OTA Taisuke; JP
代理人:
家入 健 IEIRI Takeshi; JP
優先権情報:
2016-17727612.09.2016JP
発明の名称: (EN) MEASUREMENT DEVICE, MICROSCOPE, AND MEASUREMENT METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE, MICROSCOPE ET PROCÉDÉ DE MESURE
(JA) 測定装置、顕微鏡、及び測定方法
要約:
(EN) Provided are a measurement device, microscope, and measurement method that make accurate measurement possible. A measurement device according to an embodiment of this invention is provided with a gold nanoparticle (11) that is disposed within or in the vicinity of the focus of a beam of light and scatters the light so as to produce scattered light, a detector (21) for detecting the intensity of the scattered light that has scattered at angles greater than the maximum converging angle at which the focus is formed and is forward scattered light that has scattered forward from the gold nanoparticle (11), and a drive unit for changing the position of the particle relative to the focus.
(FR) L'invention concerne un dispositif de mesure, un microscope et un procédé de mesure qui permettent une mesure précise. Un dispositif de mesure, selon un mode de réalisation de la présente invention, est pourvu d'une nanoparticule d'or (11) qui est disposée à l'intérieur ou à proximité du foyer d'un faisceau de lumière et diffuse la lumière de façon à produire une lumière diffusée, d'un détecteur (21) destiné à détecter l'intensité de la lumière diffusée qui a été diffusée à des angles supérieurs à l'angle de convergence maximal auquel le foyer est formé et qui est une lumière diffusée vers l'avant qui a été diffusée vers l'avant à partir de la nanoparticule d'or (11), et d'une unité d'entraînement destinée à modifier la position de la particule par rapport au foyer.
(JA) 正確に測定することができる測定装置、顕微鏡、及び測定方法を提供すること。 本発明の一態様にかかる測定装置は、光ビームの焦点内又は焦点近傍に配置され、光を散乱して散乱光を発生する金ナノ粒子(11)と、金ナノ粒子(11)の前方に散乱した前方散乱光で、かつ、焦点を形成する最大集光角より大きい角度への散乱光の強度を検出する光検出器(21)と、焦点に対する粒子の相対位置を変化させる駆動部と、を備えたものである。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)