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1. (WO2018047442) 微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法

Pub. No.:    WO/2018/047442    International Application No.:    PCT/JP2017/023465
Publication Date: Fri Mar 16 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Wed Jun 28 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01N 15/14
Applicants: SONY CORPORATION
ソニー株式会社
Inventors: TAHARA Katsutoshi
田原 克俊
Title: 微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法
Abstract:
本技術では、微小粒子の特性を光学的に測定する微小粒子測定において、測定の効率化を図る技術を提供する。 これに対し、本技術では、微小粒子を含む複数の容器のうち一の容器から送液された、微小粒子からの光を検出する検出部と、前記検出部で検出した情報に基づき、ある時間区間における検出数に関連する特徴量を特定し、所定の閾値に基づいて前記特徴量が異常であると判定し、前記一の容器に対する検出を終了するよう制御する情報処理部と、を備える微小粒子測定装置などを提供する。