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1. (WO2018047441) 微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法
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国際公開番号: WO/2018/047441 国際出願番号: PCT/JP2017/023463
国際公開日: 15.03.2018 国際出願日: 27.06.2017
IPC:
G01N 15/14 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
15
粒子の特徴の調査;多孔性材料の透過率,気孔量または表面積の調査
10
個別の粒子の調査
14
電気光学的調査
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
62
調査される材料が励起され,それにより光を発しまたは入射光の波長に変化を生ずるシステム
63
光学的励起
64
蛍光;燐光
出願人:
ソニー株式会社 SONY CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区港南1丁目7番1号 1-7-1 Konan, Minato-ku, Tokyo 1080075, JP
発明者:
田原 克俊 TAHARA Katsutoshi; JP
代理人:
渡邊 薫 WATANABE Kaoru; JP
優先権情報:
2016-17700109.09.2016JP
発明の名称: (EN) MICROPARTICLE MEASUREMENT DEVICE AND MICROPARTICLE MEASUREMENT METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE MICROPARTICULES ET PROCÉDÉ DE MESURE DE MICROPARTICULES
(JA) 微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法
要約:
(EN) Provided is a microparticle measurement device and method for optically measuring the properties of microparticles, wherein it is possible to adjust the differences in output of light sources with a high degree of accuracy. This microparticle measurement device comprises at least: two or more light sources having different wavelength ranges, a detection unit which detects light from fluorescent reference particles in response to excitation light from the light sources; and an information processing unit which compares, on the basis of information detected by the detection unit, a characteristic quantity of an output pulse on the basis of a reference light source from among the plurality of light sources, and a characteristic quantity of an output pulse on the basis of at least one of the other light sources, and adjusts the output of said other light source(s).
(FR) L'invention concerne un dispositif de mesure de microparticules et un procédé permettant de mesurer de manière optique les propriétés de microparticules, le dispositif et le procédé permettant d'ajuster les variations d'émission de sources lumineuses avec un degré de précision élevé. Le dispositif de mesure de microparticules selon l’invention comprend au moins : deux sources lumineuses ou plus ayant différentes plages de longueur d'onde, une unité de détection qui détecte la lumière provenant de particules de référence fluorescentes en réponse à une lumière d'excitation émise par des sources lumineuses ; et une unité de traitement d'information qui compare, d'après les informations détectées par l'unité de détection, une quantité caractéristique d'une impulsion d'émission en fonction d'une source lumineuse de référence parmi la pluralité des sources lumineuses, et une quantité caractéristique d'une impulsion d'émission en fonction d'au moins l'une des autres sources lumineuses, et qui ajuste l'émission de ladite autre source lumineuse.
(JA) 本技術では、微小粒子の特性を光学的に測定する微小粒子測定において、光源の出力差を精度高く調整する技術を提供する。 これに対し、本技術では、異なる波長域を有する少なくとも2つの光源と、前記光源からの励起光に応じて、蛍光基準粒子からの光を検出する検出部と、前記検出部で検出した情報に基づき、前記複数の光源のうち基準光源に基づく出力パルスの特徴量と、少なくとも1つのその他の光源に基づく出力パルスの特徴量と、を比較し、前記その他の光源の出力を調整する情報処理部と、を少なくとも備える微小粒子測定装置などを提供する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)